[发明专利]一种基于卤化亚锡的阻变存储器有效
申请号: | 201710611789.8 | 申请日: | 2017-07-25 |
公开(公告)号: | CN107565017B | 公开(公告)日: | 2019-12-27 |
发明(设计)人: | 王浩;何玉立;马国坤;刘春雷;蔡恒梅;陈傲 | 申请(专利权)人: | 湖北大学 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00 |
代理公司: | 42212 武汉河山金堂专利事务所(普通合伙) | 代理人: | 丁齐旭 |
地址: | 430062 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提出了一种基于卤化亚锡的阻变存储器及其制备方法,其具体结构为三明治结构,用FTO、或ITO、或ZTO作为基片和底电极,卤化亚锡薄膜作为阻变层,Pt、Au、W作为顶电极。本发明采用了一种新型的阻变功能材料卤化亚锡,它具有成分简单、易于成膜、性能稳定的特点。以卤化亚锡作为阻变层制备的阻变存储器单元,具有高低阻态比值窗口大、电学性能稳定、制备工艺简单、成本低廉、安全可靠,同时无环境污染的特点。具有良好的循环耐受性,在多次重复擦写之后仍然具有良好的阻变性能。本发明具有较好的发展潜力和应用价值。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 卤化 存储器 | ||
【主权项】:
1.一种基于卤化亚锡的阻变存储器,从下至上依次为透明导电玻璃基片及底电极、阻变层和顶电极,其特征在于/n所述透明导电玻璃的材料为FTO、或者为ITO、或者为ZTO,底电极为其导电薄膜,是阻变存储器的共电极;/n所述阻变层为卤化亚锡薄膜,其厚度为50~300nm,阻变层由单个或多个单元组成,每个单元一端连接顶电极,一端连接底电极;/n所述顶电极为Au、Pt薄膜或W薄膜,厚度为50~300nm,顶电极由多个顶电极单元组成,每个顶电极单元一端浮置,一端连接相应的阻变层单元;/n所述卤化亚锡为SnI
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