[发明专利]一种在线调节光纤马赫‑曾德干涉仪获得高质量干涉光谱的方法

摘要

本发明属于光纤传感器技术领域，提出一种在线调节光纤马赫‑曾德干涉仪获得高质量干涉光谱的方法。通过对光纤马赫‑曾德干涉仪制作完成的台阶形锥施加多次微错位与弱放电，同时在光谱仪上观察干涉仪的输出干涉谱，实现对台阶形锥结构参数的在线扫描与对干涉光谱的在线调整，此方法通过只制作一个光纤结构可节省优化结构参数时间，降低光纤消耗，尤其光子晶体光纤等特种光纤，进而节省费用，此外还可以避免制作多个光纤结构过程中人为因素的影响，例如避免光纤端面切割不平整度等的影响，从而加速了光纤马赫‑曾德干涉仪结构与光谱优化进程。此外，此方法可获得插入损耗低且消光比高的高质量光谱。

主权项

一种在线调节光纤马赫‑曾德干涉仪获得高质量干涉光谱的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1，制备光纤马赫‑曾德干涉仪；1.1将一条单模光纤切割成三段，位置顺序不变，在熔接机中分别对两组光纤的切割端面施加放电强度为100～150unit，放电时间为800～1200ms的强电弧放电，制得光纤半锥；1.2通过调节熔接机的马达径向移动，对一组光纤半锥在径向进行错位量为4～7μm的错位，之后对径向错位放置的两个光纤半锥进行熔接，形成第一台阶形锥；1.3对另一组光纤半锥在径向进行与步骤1.2相同程度的错位后熔接，形成第二台阶形锥；得到具有对称台阶形锥的光纤马赫‑曾德干涉仪；步骤2，在线调整，获得最优干涉光谱；2.1将步骤1.3制备得到的具有对称台阶形锥的光纤马赫‑曾德干涉仪的一端连接宽谱光源，另一端连接光谱分析仪；2.2对第二台阶形锥进行错位量为4～7μm的微错位与放电强度为100～150unit，放电时间为150～200ms的弱放电，光纤马赫‑曾德干涉仪具有非对称台阶形锥；2.3通过光谱分析仪记录具有非对称台阶形锥的光纤马赫‑曾德干涉仪的干涉光谱，并读取其光谱消光比及插入损耗；2.4重复步骤2.2和2.3，通过比较光谱消光比及插入损耗的参数性能，直至获得最优干涉光谱。