[发明专利]一种基于FPGA的并行循环冗余CRC校验方法有效
申请号: | 201710508875.6 | 申请日: | 2017-06-28 |
公开(公告)号: | CN107154836B | 公开(公告)日: | 2019-12-20 |
发明(设计)人: | 赵鸿;余晓川;王珊珊;王君;严琪 | 申请(专利权)人: | 西安空间无线电技术研究所 |
主分类号: | H04L1/00 | 分类号: | H04L1/00;H04B7/185;H03M13/09 |
代理公司: | 11009 中国航天科技专利中心 | 代理人: | 范晓毅 |
地址: | 710100 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于FPGA的并行循环冗余CRC校验方法。该方法遵循CRC‑CCITT编码给定CRC算法,利用简单异或逻辑实现并行循环冗余CRC校验码计算,解决了基于比特串行的多次并串转换的逻辑缺陷,突破了基于查找表的BlockRAM资源占用率高的工程瓶颈,提高了CRC校验的数据吞吐量,同时降低了对硬件资源苛刻需求,从而实现了简化逻辑、提高效率和降低资源的目的。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 fpga 并行 循环 冗余 crc 校验 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于FPGA的并行循环冗余CRC校验方法,其特征在于,包括如下步骤:/n步骤一、按照卫星遥控、遥测、外测或数传的数据传输设定格式要求组帧,形成数据帧,其中:/n所述数据帧的帧长为Na,其中参与CRC编码的有效字节长度为Nb,CRC校验码字节长度为Nk;所述数据帧的逻辑时序包括帧同步字部分、待编码数据部分、以及CRC校验部分;所述帧同步字部分的时序长度为Na-Nb-Nk,所述待编码数据部分的时序长度为Nb,所述CRC校验部分的时序长度为Nk;/n步骤二、确认不同的CRC模式对输入与输出数据的顺序要求、初始相位要求、以及输出结果是否与0xFFFF异或的要求,其中:/n所述输出结果是否与0xFFFF异或的要求,包括:/n当所述具体CRC模式为X25模式时,利用所述循环冗余CRC校验并行计算公式算出的CRC校验码要求与0xFFFF进行异或运算;/n所述循环冗余CRC校验并行计算基于CRC-CCITT标准,所述循环冗余CRC校验并行计算公式具体为:当前字节的CRC校验码等于前一字节CRC寄存器值与当前字节各信息位的逻辑异或;/n当所述具体CRC模式对输入与输出数据的顺序要求为倒序时,/n
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