[发明专利]存储器掉电时间段定位方法及系统掉电保护方法有效
| 申请号： | 201710508617.8 | 申请日： | 2017-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN107316659B | 公开（公告）日： | 2020-05-01 |
| 发明（设计）人： | 蒋小辉;粟立嘉;林国明 | 申请（专利权）人： | 东信和平科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 519060 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储器掉电时间段定位方法，包括：以第一时间段为步长，对指令过程进行逐步掉电测试，定位出所述指令过程中在存储器中编程的编程时间段；逐次在所述编程时间段中进行逐步掉电测试，定位出所述存储器的掉电时间段，在各次定位中，下一次逐步掉电测试采用的掉电测试步长小于上一次逐步掉电测试采用的掉电测试步长，下一次逐步掉电测试在上一次逐步掉电测试所定位出的掉电时间段中进行。对指令过程进行逐次定位，在各次定位中依次减小掉电测试的测试步长时间段，来逐次定位出存储器编程过程中掉电时间段，能够实现对存储器掉电时间段的准确定位。本发明还公开一种采用上述存储器掉电时间段定位方法的系统掉电保护方法。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 掉电 时间段 定位 方法 系统 保护 | ||
【主权项】：
一种存储器掉电时间段定位方法，其特征在于，包括：以第一时间段为步长，对指令过程进行逐步掉电测试，定位出所述指令过程中在存储器中编程的编程时间段；逐次在所述编程时间段中进行逐步掉电测试，定位出所述存储器的掉电时间段，在各次定位中，下一次逐步掉电测试采用的掉电测试步长小于上一次逐步掉电测试采用的掉电测试步长，下一次逐步掉电测试在上一次逐步掉电测试所定位出的掉电时间段中进行。
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