[发明专利]一种FPGA逻辑测试结构及方法在审
| 申请号： | 201710500759.X | 申请日： | 2017-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN107290654A | 公开（公告）日： | 2017-10-24 |
| 发明（设计）人： | 王子彤;姜凯;聂林川 | 申请（专利权）人： | 济南浪潮高新科技投资发展有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3177 | 分类号： | G01R31/3177 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司37100 | 代理人： | 孟峣 |
| 地址： | 250100 山东省济南市*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种FPGA逻辑测试结构及方法，包括FPGA模块，提供FPGA内部待测信号或变量；外部存储模块，连接所述FPGA模块并对来自FPGA模块的内部待测信号或变量进行存储处理；控制模块，连接所述外部存储模块，并选取存储的待测信号或变量，完成外部读取，判断FPGA模块的内部逻辑运行状态后显示。本发明的一种FPGA逻辑测试结构及方法与现有技术相比，可以方便高效地对待测信号进行跟踪观察，验证FPGA内部逻辑，极大提升项目初期及调试阶段的效率，资源占用低，相对于专用仪器，也可降低开发成本，实用性强，适用范围广泛，易于推广。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 fpga 逻辑 测试 结构 方法 | ||
【主权项】：
一种FPGA逻辑测试结构，其特征在于，包括，FPGA模块，提供FPGA内部待测信号或变量；外部存储模块，连接所述FPGA模块并对来自FPGA模块的内部待测信号或变量进行存储处理；控制模块，连接所述外部存储模块，并选取存储的待测信号或变量，完成外部读取，判断FPGA模块的内部逻辑运行状态后显示。
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