[发明专利]一种显示面板的老化测试系统及方法有效
申请号: | 201710485956.9 | 申请日: | 2017-06-23 |
公开(公告)号: | CN107170911B | 公开(公告)日: | 2019-01-04 |
发明(设计)人: | 涂爱国;方俊雄;吴聪原;李金川;姜亮;魏锋 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L51/56 | 分类号: | H01L51/56;H01L51/00 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 钟子敏 |
地址: | 518006 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种显示面板的老化测试系统及方法。该老化测试系统包括真空腔体、点灯机构、至少一个光谱仪和至少一个相机,其中,真空腔体用于老化显示面板,并且真空腔体设置点灯机构、光谱仪和相机;点灯机构用于点亮显示面板;光谱仪用于检测显示面板的色坐标和亮度;相机用于检测显示面板的子像素的暗点缺陷。因此,本发明能够节约检测的时长,提高检测效率,并且简化了显示面板的量产线的设计,节省检测设备,从而降低检测成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 显示 面板 老化 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种显示面板的老化测试系统,其特征在于,所述老化测试系统包括真空腔体、点灯机构、至少一个光谱仪和至少一个相机,其中:所述真空腔体设置有用于老化所述显示面板的老化设备,并且所述真空腔体设置所述点灯机构、光谱仪和相机;所述点灯机构与所述显示面板电连接,用于点亮所述显示面板;所述至少一个光谱仪位于所述显示面板发出的光的光路上,用于检测所述显示面板的亮度和色坐标;所述至少一个相机位于所述显示面板发出的光的光路上,用于检测显示面板的子像素的暗点缺陷。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L51-00 使用有机材料作有源部分或使用有机材料与其他材料的组合作有源部分的固态器件;专门适用于制造或处理这些器件或其部件的工艺方法或设备
H01L51-05 .专门适用于整流、放大、振荡或切换且并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的电容器或电阻器
H01L51-42 .专门适用于感应红外线辐射、光、较短波长的电磁辐射或微粒辐射;专门适用于将这些辐射能转换为电能,或者适用于通过这样的辐射进行电能的控制
H01L51-50 .专门适用于光发射的,如有机发光二极管
H01L51-52 ..器件的零部件
H01L51-54 .. 材料选择
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