[发明专利]部分相干光条件下的涡旋光束拓扑荷的测量方法及系统有效
| 申请号： | 201710473656.9 | 申请日： | 2017-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN107894288B | 公开（公告）日： | 2023-08-11 |
| 发明（设计）人： | 赵承良;曾军;卢兴园;朱新蕾;刘磊鑫;蔡阳健 | 申请（专利权）人： | 苏州大学 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257 | 代理人： | 冯瑞 |
| 地址： | 215000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种部分相干光条件下的涡旋光束拓扑荷的测量方法及系统，所述方法包括：将部分相干光束转化为携带相位因子的待测试部分相干涡旋光束；将进行相位扰动的待测部分相干涡旋光束和没有进行相位扰动的待测部分相干涡旋光束分别穿过多孔阵列板；对穿过所述多孔阵列板的光束进行傅里叶变换；分别拍摄傅里叶变换后光束的光强信息；对拍摄得到的光强进行实时反傅里叶变换、筛选阵列筛选以及反传输处理，获得待测涡旋光束的拓扑荷分布结构。本发明本发明结构合理，涡旋光束拓扑荷的测量处理过程过程简单、耗时极短。 | ||
| 搜索关键词： | 部分 相干光 条件下 涡旋 光束 拓扑 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
一种部分相干光条件下的涡旋光束拓扑荷的测量的方法，其特征在于，包括：将部分相干光束转化为携带相位因子的待测试部分相干涡旋光束；待测试部分相干涡旋光束两次分别经过空间光调制器调制后反射输出，一次所述空间光调制器加载一个截取有效观测范围的光斑的截取框；另一次所述空间光调制器加载一个截取有效观测范围的光斑的截取框并在截取框内添加一个对待测试部分相干涡旋光束进行相位扰动的扰动点；经空间光调制器反射输出的没有进行相位扰动的待测部分相干涡旋光束和进行相位扰动的待测部分相干涡旋光束分别穿过多孔阵列板；对穿过所述多孔阵列板的没有进行相位扰动的待测部分相干涡旋光束和进行相位扰动的待测部分相干涡旋光束分别进行傅里叶变换；在傅里叶平面处分别拍摄进行没有进行相位扰动的待测部分相干涡旋光束和进行相位扰动的待测部分相干涡旋光束的光强；计算机对拍摄得到的光强进行实时反傅里叶变换、筛选阵列筛选以及反传输处理，获得待测涡旋光束的拓扑荷分布结构。
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