[发明专利]一种无标记微纳米粒子的荧光探测方法及装置有效
| 申请号： | 201710467212.4 | 申请日： | 2017-06-20 |
| 公开（公告）号： | CN107290314B | 公开（公告）日： | 2020-10-20 |
| 发明（设计）人： | 洪昕 | 申请（专利权）人： | 大连理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人： | 梅洪玉 |
| 地址： | 116024 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种无标记微纳米粒子的荧光探测方法及装置,属于近场光学技术领域。其特征在于利用全内反射结构激发贵金属的表面等离子共振，位于贵金属膜表面的微纳米粒子与贵金属膜的表面等离子体共振作用后发生受抑全内反射，通过其透射光激发粒子所在荧光溶液发光。装置包括激光器、偏振调整器、光波矢‑金属膜表面等离子耦合器、一侧表面镀有贵金属膜的玻璃载玻片、缺底样品槽、荧光收集透镜、光学中性滤波片、光电探测器、处理电路、电脑、旋转台。本发明实现了对微纳米粒子的无需标记直接探测，粒子的浓度直接通过荧光的强度进行表征。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 标记 纳米 粒子 荧光 探测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种无标记微纳粒子的荧光探测方法，其特征在于,利用全内反射结构激发贵金属的表面等离子共振，位于贵金属膜表面的微纳米粒子与贵金属膜的表面等离子体共振作用后发生受抑全内反射，通过其透射光激发粒子所在处的荧光溶液发光。
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