[发明专利]一种高稳晶振测量装置

摘要

本发明涉及时间校准领域，尤其涉及一种高稳晶振测量装置，包括处理器、D/A控制模块、增益控制模块、VCXO模块、温控模块、逻辑门阵列、微商计算模块、增益控制模块、张弛时间模块、采样信号显示模块、光开关、A/D采样模块、探测信号生成模块、腔泡系统和光源，本发明的有益效果是：通过将处理器处理后的信号送入逻辑门阵列，因为上时刻光源激励光能够透过腔泡系统，故此时刻经A/D采样产生的信号是高电平‘1’，奇数级逻辑非门后变成低电平‘0’，作用于光源模块中的高速Shutter，使其为‘关’状态。依次循环，在逻辑门阵列的输出端会出现‘1’—‘0’—‘1’…‘0’的变化，通过处理器对频率信号检测，我们即可得出相应的时间参数。

主权项

一种高稳晶振测量装置，其特征在于，包括处理器、D/A控制模块、增益控制模块、VCXO模块、温控模块、逻辑门阵列、微商计算模块、增益控制模块、张弛时间模块、采样信号显示模块、光开关、A/D采样模块、探测信号生成模块、腔泡系统和光源，所述处理器分别和光开关、探测信号生成模块、张弛时间模块、微商计算模块、逻辑门阵列、D/A控制模块通信连通，所述D/A控制模块通信连接有增益控制模块，所述增益控制模块通信连通VCXO模块，所述VCXO模块通信连接有探测信号生成模块，所述探测信号生成模块通信连接有腔泡系统；所述微商计算模块通信连接有增益控制模块，所述张弛时间模块通信连接有采样信号显示模块，所述光开关通电连接有光源，所述光源通过A/D采样模块通信连接有处理器。