[发明专利]一种崔盘、阵列测量系统及方法在审

专利信息
申请号: 201710458282.3 申请日: 2017-06-16
公开(公告)号: CN107014415A 公开(公告)日: 2017-08-04
发明(设计)人: 刘涛 申请(专利权)人: 东莞市奥铭测控智能科技有限公司
主分类号: G01D11/00 分类号: G01D11/00
代理公司: 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙)44312 代理人: 王利彬
地址: 523000 广东省东莞*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种崔盘、阵列测量系统及方法,旨在解决现有的产品测量效率低下,测量结果准确率低的问题。本发明所提供的崔盘内的若干个同规格的待测产品以阵列的方式进行排列摆放。本发明所提供的应用该崔盘的阵列测量系统,该系统中的测量仪器按照智能终端的阵列测量指令对崔盘内的待测产品进行自动有序的测量,由于无需对单个待测产品一个个进行离盘检测,而直接对整个崔盘上的所有产品进行自动测量,从而大大地减少了装盘、卸盘的时间,提高了产品测量的效率。且由于减少了人为的操作过程,降低了人为操作而导致的误差,使得测量结果准确率大大提高。
搜索关键词: 一种 阵列 测量 系统 方法
【主权项】:
一种崔盘,其特征在于,所述崔盘内包括若干个以阵列方式排列的固定区域,每个所述固定区域用于固定待测产品,以使摆放后的每一行的所述待测产品的横轴线与所述崔盘的横边框平行,且每一列的所述待测产品的纵轴线与所述崔盘的纵边框平行。
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