[发明专利]主控芯片的加热装置及方法在审
| 申请号: | 201710458235.9 | 申请日: | 2017-06-16 |
| 公开(公告)号: | CN107272771A | 公开(公告)日: | 2017-10-20 |
| 发明(设计)人: | 陈进奖;张鑫;方旭逢 | 申请(专利权)人: | 深圳市共进电子股份有限公司 |
| 主分类号: | G05D23/24 | 分类号: | G05D23/24 |
| 代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人: | 吴平 |
| 地址: | 518067 广东省深圳市南山区南海大道1019号医疗器械产业园B116*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | 本发明涉及一种主控芯片的加热装置及加热方法,包括主控控制模块,通过接收主控芯片发出的第一控制信号控制后端电路开启加热模式或关闭加热模式;温度检测模块,与所述主控控制模块连接,用于检测所述主控芯片的温度,并根据检测的所述温度反馈电压值至所述主控控制模块;比较模块,与所述主控控制模块连接,将所述温度检测模块反馈的电压值与预设电压值进行比较,根据比较的结果输出第二控制信号控制开启加热或关闭加热;加热模块,与所述比较模块连接,用于给主控芯片加热。使主控芯片在低温条件下能够快速达到工作所需的温度,且主控芯片加热的温度可控,并能有效降低主控芯片加热过程中的成本。 | ||
| 搜索关键词: | 主控 芯片 加热 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种主控芯片的加热装置,其特征在于,包括:主控控制模块,通过接收主控芯片发出的第一控制信号控制后端电路开启加热模式或关闭加热模式;温度检测模块,与所述主控控制模块连接,用于检测所述主控芯片的温度,并根据检测的所述温度反馈电压值至所述主控控制模块;比较模块,与所述主控控制模块连接,将所述温度检测模块反馈的电压值与预设电压值进行比较,根据比较的结果输出第二控制信号控制开启加热或关闭加热;加热模块,与所述比较模块连接,用于给主控芯片加热。
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