[发明专利]一种测距方法及终端在审

专利信息
申请号: 201710454480.2 申请日: 2017-06-14
公开(公告)号: CN109085591A 公开(公告)日: 2018-12-25
发明(设计)人: 狄希;潘明东 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: G01S13/93 分类号: G01S13/93
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 王军红;张颖玲
地址: 518057 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种测距方法,应用于第一终端,所述第一终端包含至少一个定向天线;包括:获取发射信号;将获取的发射信号进行调制处理,并通过所述至少一个定向天线进行辐射,其中,所述发射信号的频率与对应定向天线的工作频率相匹配;通过所述至少一个定向天线接收第一反射信号,所述第一反射信号为所述至少一个定向天线辐射的发射信号遇到障碍物后反射回的信号;针对每个定向天线,将接收的第一反射信号进行解调处理,并将处理后的第一反射信号发出;发出的第一反射信号用于确定所述障碍物与对应定向天线之间的距离。本发明还同时公开了一种第一终端、第二终端。
搜索关键词: 定向天线 反射信号 发射信号 终端 测距 障碍物 调制处理 工作频率 解调处理 辐射 反射 匹配 应用
【主权项】:
1.一种测距方法,其特征在于,应用于第一终端,所述第一终端包含至少一个定向天线;所述方法包括:获取发射信号;将获取的发射信号进行调制处理,并通过所述至少一个定向天线进行辐射,其中,所述发射信号的频率与对应定向天线的工作频率相匹配;通过所述至少一个定向天线接收第一反射信号,所述第一反射信号为所述至少一个定向天线辐射的发射信号遇到障碍物后反射回的信号;针对每个定向天线,将接收的第一反射信号进行解调处理,并将处理后的第一反射信号发出;发出的第一反射信号用于确定所述障碍物与对应定向天线之间的距离。
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