[发明专利]活性测试方法和活性测试计算设备在审
| 申请号： | 201710450423.7 | 申请日： | 2017-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN107766786A | 公开（公告）日： | 2018-03-06 |
| 发明（设计）人： | 俞炳仁;郭荣竣;金亭培;孙辰雨;李昶教;崔昌圭;韩在濬 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00;G06F21/32;G06Q20/40 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司11286 | 代理人： | 王兆赓,张川绪 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开一种活性测试方法和活性测试计算设备。一种处理器实现的活性测试方法包括从输入图像中的对象的部分提取所述对象的感兴趣区域；使用基于神经网络模型的活性测试模型对所述对象执行活性测试，其中，活性测试模型使用感兴趣区域的图像信息作为提供到活性测试模型的第一输入图像信息，并至少基于由活性测试模型从感兴趣区域的信息提取的纹理信息确定活性；指示活性测试的结果。 | ||
| 搜索关键词： | 活性 测试 方法 计算 设备 | ||
【主权项】：
一种活性测试方法，包括：从输入图像中的对象的部分提取所述对象的感兴趣区域；使用基于神经网络模型的活性测试模型对所述对象执行活性测试，其中，活性测试模型使用感兴趣区域的图像信息作为提供到活性测试模型的第一输入图像信息，并至少基于由活性测试模型从感兴趣区域的图像信息提取的纹理信息来确定活性；指示活性测试的结果。
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