[发明专利]一种探测电离层电子密度总数的方法及装置有效
申请号: | 201710449241.8 | 申请日: | 2017-06-14 |
公开(公告)号: | CN107132423B | 公开(公告)日: | 2019-10-11 |
发明(设计)人: | 周晨;赵家奇;赵正予 | 申请(专利权)人: | 武汉大学 |
主分类号: | G01R29/00 | 分类号: | G01R29/00 |
代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 蔡瑞 |
地址: | 430072 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明涉及一种探测电离层电子密度总数的方法及装置。在待测区域架设两部双频GPS接收机天线相距10m左右,接受GPS卫星信号,并将GPS卫星信号经同轴电缆传入两台双频GPS接收机,双频GPS接收机处理卫星信号,将得到的数据通过通讯电缆保存至计算机,取一天数据,利用软件程序对数据进行处理。建立多项式模型计算双频GPS接收机和卫星硬件延迟,得到去除双频GPS接收机和卫星硬件延迟后的斜向电子密度总数,将两站双频GPS接收机斜向电子密度总数综合,通过投影函数,即可将其转换为垂直电子密度总数。本发明采用10m级短基线基于地基GPS双站布站方式探测电离层电子密度总数,精度高,数据存储、管理以及设备维护方便。 | ||
搜索关键词: | 一种 探测 电离层 电子密度 总数 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种探测电离层电子密度总数的方法,其特征在于,数据处理方法步骤,包括:步骤S1,获取设定时间段内的两台双频GPS接收机记录的数据,分别计算斜向绝对电子密度总数、斜向相对电子密度总数以及对应时间、GPS卫星位置;步骤S2,对斜向绝对电子密度总数和斜向相对电子密度总数进行相位平滑伪距处理得到包含GPS卫星及双频GPS接收机硬件延迟的斜向电子密度总数K1,再将得到的所述斜向电子密度总数K1以及对应时间、GPS卫星位置输入多项式模型,计算两台双频GPS接收机和GPS卫星硬件延迟;步骤S3,计算去除两台双频GPS接收机和GPS卫星硬件延迟后的斜向电子密度总数K2,并将得到的两台双频GPS接收机同一时刻的斜向电子密度总数K2取均值,再通过投影函数转化为垂直电子密度总数。
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