[发明专利]一种基于电磁波透射系数的未知墙体参数估计方法有效
| 申请号： | 201710447396.8 | 申请日： | 2017-06-14 |
| 公开（公告）号： | CN107300694B | 公开（公告）日： | 2020-04-17 |
| 发明（设计）人： | 李家强;朱江;陈金立;朱艳萍 | 申请（专利权）人： | 南京信息工程大学 |
| 主分类号： | G01S7/41 | 分类号： | G01S7/41 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人： | 董建林 |
| 地址： | 210019 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于电磁波透射系数的未知墙体参数估计方法，建立三层介质的墙体模型，第一介质层和第三介质层分别位于第二介质层的两侧，第二介质层为待测介质层；将发射天线布置于第一介质层，接收天线布置于第三介质层，发射天线距离第二介质层前表面的距离和接受天线距离第二介质层后表面的距离相等；发射天线发射电磁波，接收天线接收发射天线所发出的电磁波；根据电磁波传播特性推导出振幅衰减系数；计算电磁波的传播时延；根据振幅衰减系数和电磁波传播时延估算第二介质层参数，本发明可以比传统方法更准确的估计出介质参数。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 电磁波 透射系数 未知 墙体 参数估计 方法 | ||
【主权项】：
一种基于电磁波透射系数的未知墙体参数估计方法，其特征在于，包括：建立三层介质的墙体模型，第一介质层和第三介质层为空气，分别位于第二介质层的两侧，第二介质层为墙体，是待测介质层；将发射天线布置于第一介质层，接收天线布置于第三介质层，发射天线距离第二介质层前表面的距离和接收天线距离第二介质层后表面的距离相等；发射天线发射电磁波，接收天线接收发射天线所发出的电磁波；根据电磁波传播特性推导出振幅衰减系数；计算电磁波的传播时延；根据振幅衰减系数和电磁波传播时延估算第二介质层参数，即墙体参数。
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