[发明专利]基于子口径测量的激光导引星波前倾斜测量方法在审

专利信息
申请号: 201710442548.5 申请日: 2017-06-13
公开(公告)号: CN107525593A 公开(公告)日: 2017-12-29
发明(设计)人: 黄凯;肖啸;肖志刚;曹进;李富钢;王诚谦;邓迟 申请(专利权)人: 乐山师范学院
主分类号: G01J9/00 分类号: G01J9/00
代理公司: 成都众恒智合专利代理事务所(普通合伙)51239 代理人: 罗言刚
地址: 614000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 基于子口径测量的激光导引星波前倾斜测量方法,包括对上行抖动量θup的测量,对上行抖动量θup的测量包括如下步骤对子孔径阵列中的子孔径进行筛选,筛选标准为筛选出的任意两个子孔径之间的距离D必须满足如下关系式(2)对筛选出的N个子孔径;测量其波前倾斜量θi,下标i表示不同的子孔径;则本发明通过对子孔径的预筛选,避免了同时选入具备下行光路波前倾斜相关性的子孔径,有效减小了系统误差,使得测量结果更加精确。
搜索关键词: 基于 口径 测量 激光 导引 星波前 倾斜 测量方法
【主权项】:
基于子口径测量的激光导引星波前倾斜测量方法,包括对上行抖动量θup的测量,其特征在于,对上行抖动量θup的测量包括如下步骤:(1)对子孔径阵列中的子孔径进行筛选,筛选标准为:筛选出的任意两个子孔径之间的距离D必须满足如下关系式:其中H为激光导引星的高度;Cn2(h)为大气湍流折射率结构常数;d为子孔径的直径;K′=2πK,K为波矢量;Jn表示n阶贝塞尔函数;筛选出的子孔径数量N应不小于50;(2)对筛选出的N个子孔径;测量其波前倾斜量θi,下标i表示不同的子孔径;则
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