[发明专利]基于薄膜厚度测量辅助定位的膜厚监测系统

摘要

本发明公开了一种基于薄膜厚度测量辅助定位的膜厚监测系统，其包括采集单元、处理单元，以及强度调节单元、调焦单元、驱动单元、执行机构和数据输出单元，执行机构中刻印单元的刻印头与挤出机模头螺栓有固定位置关系，通过在铸片的预设位置上刻印出V形或U形缺口印记，然后对测厚仪输出的薄膜剖面厚度曲线进行分析处理，获得厚度曲线上各点的厚度值，又基于缺口极值点对模头螺栓进行准确定位。本发明通过印记刻印和剖面数据处理，实现对薄膜厚度的实时监测，为膜厚控制提供了有效依据，能警示膜厚异常数据，且辅助定位所需的刻印量少。

主权项

1.一种基于薄膜厚度测量辅助定位的膜厚监测系统，包括采集单元、处理单元，以及强度调节单元、调焦单元、驱动单元、执行机构、同步单元和数据输出单元；所述采集单元从测厚仪采集薄膜剖面厚度曲线数据后传送给处理单元；所述处理单元通过对所述薄膜剖面厚度曲线的极值点搜索和判断，计算获得模头螺栓在曲线上的准确定位及各点薄膜厚度；所述执行机构包括一个采用激光刻印模块的刻印单元，在处理单元的指令下，强度调节单元、调焦单元和驱动单元共同控制执行机构动作，使所述刻印单元在由挤出机挤出后冷却成型的铸片的预设位置上刻印出V形或U形缺口印记；所述数据输出单元输出剖面各点厚度值，在厚度曲线上标记各模头螺栓位置，并在厚度值超出预先设置的范围时发出警示；所述刻印单元设置在用来将从挤出机挤出的薄膜原料熔体贴在激冷辊上的主气刀的前方，其所刻印的印记由多个深度不同的矩形刻槽组成；所述同步单元为驱动单元提供刻印开始的时间信息，通过所述同步单元为驱动单元提供刻印开始时刻的对齐，同步后，在测厚仪的一个单程扫描时间内，仅需要刻印一个由所述多个深度不同的矩形刻槽组成的刻槽群，就能使得所有的所述矩形刻槽均能被测厚仪检测到。