[发明专利]一种基于单光电探测器的颗粒粒度测量仪

摘要

本发明设计了一种基于单光电探测器的颗粒粒度测量仪，所用元件包括：数字微镜阵列(DMD)及控制电路、傅立叶透镜、会聚透镜、单光电探测器。该方法包括以下步骤：激光经过扩束形成平行光，照射被测颗粒发生衍射，经过傅立叶透镜会聚后，衍射光照射在位于焦平面的DMD数字微镜上。DMD微镜片逐个偏转到反射状态，单光电探测器收集反射光，确定反射光光强最大的位置为衍射光斑中心。从衍射光斑中心开始，以条形排布偏转数字微镜阵列的微镜片到反射状态，单光电探测器采集对应位置的反射光强，得到一个列向量，即衍射光强的投影光强。最后利用阿贝尔逆变换和积分反演计算颗粒粒径分布。本发明结构简单，操作方便，计算速度快，在颗粒粒径测量领域有较高的使用价值和广阔的应用前景。

主权项

一种基于单光电探测器的颗粒粒度测量仪，包括数字微镜阵列及控制电路、傅立叶透镜、会聚透镜、单光电探测器，其特征在于，被测颗粒、傅立叶透镜、数字微镜阵列放置于前向散射光路上，傅立叶透镜位于被测颗粒和数字微镜阵列之间，数字微镜阵列位于傅立叶透镜的焦点处，会聚透镜、单光电探测器放置于数字微镜阵列的反射光路上，会聚透镜位于数字微镜阵列和单光电探测器之间。