[发明专利]有限物距畸变测量方法及系统有效
| 申请号： | 201710416016.4 | 申请日： | 2017-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN107063644B | 公开（公告）日： | 2020-06-12 |
| 发明（设计）人： | 袁承宗;顾翼飞;王爱国;刘艳丽;蔡非凡;王琰;张震 | 申请（专利权）人： | 上海航天测控通信研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提出一种有限物距畸变测量方法及系统，该方法包括以下步骤：S1：提供一目标测量平面，所述目标测量平面上阵列式排布有多个测量标识点，所述测量标识点的实际间距已知；S2：镜头调整物距，在调整后的物距下对所述目标测量平面进行图像拍摄；S3：识别拍摄得到图像中的目标测量平面上的测量标识点，选取图像中的测量标识点，根据测量标识点的显示间距与实际间距、及对应物距，计算镜头的近轴焦距和不同视场处的轴外焦距；S4：计算不同视场角处的轴外焦距与近轴焦距的相对值，得到相应视场角下的相对畸变。可对光学镜头畸变指标进行测量。 | ||
| 搜索关键词： | 有限 畸变 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
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