[发明专利]一种多相复合涂层残余应力检测方法有效

专利信息
申请号: 201710413157.0 申请日: 2017-06-05
公开(公告)号: CN107014539B 公开(公告)日: 2020-05-22
发明(设计)人: 王海斗;马国政;陈书赢;何鹏飞;邢志国;赵钦;王译文;徐滨士 申请(专利权)人: 中国人民解放军装甲兵工程学院
主分类号: G01L5/00 分类号: G01L5/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 100072*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请提供一种多相复合涂层残余应力检测方法,通过在多相复合涂层测试试样上选取待测量区域,在待测量区域上制作点阵;获取待测量区域的第一形貌图像;对围绕待测量区域四周的材料进行去除,并获取去除材料之后的待测量区域的第二形貌图像;根据第一形貌图像和第二形貌图像,获取点阵中各点的位移量;根据点阵中各点的位移量,计算待测量区域的残余应力。在微观尺度上准确分辨不同物相,然后再测得其对应的残余应力,实现了多相复合涂层内部的物相进行选取和区分,再通过对多相复合涂层周围材料的去除,分析得到由于残余应力释放而产生的应变,从而测得多相复合涂层中单相物质的残余应力。
搜索关键词: 一种 多相 复合 涂层 残余 应力 检测 方法
【主权项】:
一种多相复合涂层残余应力检测方法,其特征在于,包括:提供多相复合涂层测试试样;选取所述多相复合涂层测试试样上的待测量区域,在所述待测量区域上制作点阵;获取所述待测量区域的第一形貌图像;对围绕所述待测量区域四周的材料进行去除,并获取去除材料之后的待测量区域的第二形貌图像;根据所述第一形貌图像和所述第二形貌图像,获取所述点阵中各点的位移量;根据所述点阵中各点的位移量,计算所述待测量区域的残余应力。
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