[发明专利]频闪灯发光效率测量系统、方法及存储介质有效
申请号: | 201710401984.8 | 申请日: | 2017-05-31 |
公开(公告)号: | CN108196206B | 公开(公告)日: | 2020-08-18 |
发明(设计)人: | 梁鸿翔 | 申请(专利权)人: | 北京西门子西伯乐斯电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/44 | 分类号: | G01R31/44;G01M11/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100094 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明实施例中公开了一种频闪灯发光效率测量系统、方法及存储介质。其中,方法包括:测量频闪灯在满布在光辐射空间半球体的体表面上的各个测试点的光照度,然后利用各个测试点的光照度计算频闪灯在该光辐射空间半球体上的光通量,同时测量频闪灯在一个闪光脉宽内的瞬时电功率,根据所述光通量与所述瞬时电功率的比值得到频闪灯的发光效率。本发明实施例中的技术方案,能够实现频闪灯的发光效率测量,进一步提高产品性能,降低产品成本。 | ||
搜索关键词: | 频闪灯 发光 效率 测量 系统 方法 存储 介质 | ||
【主权项】:
1.频闪灯发光效率测试系统,包括:一样品架(220),其可活动地安装在一个光学平台(210)的平台平面(212)上,待测频闪灯(10)能够被夹持在所述样品架(220)上,该样品架(220)具有第一旋转轴(Zα)和第二旋转轴(Zβ),其中,所述第一旋转轴(Zα)垂直于所述平台平面(212),所述第二旋转轴(Zβ)垂直于所述第一旋转轴(Zα),所述待测频闪灯(10)的发光参考点置于所述第一和第二旋转轴的交叉点(O)处,所述样品架(220)能够使所述待测频闪灯(10)绕所述第一旋转轴(Zα)转动至一第一角度(αi)和/或绕第二旋转轴(Zβ)转动至一第二角度(βj),所述第一角度(αi)和/或所述第二角度(βj)确定一个测试点(Pij);一感测组件(230),其可活动地安装在所述平台平面(212)上,且光轴平行于所述平台平面,并穿过所述第一和第二旋转轴的交叉点(O),与所述交叉点(O)间隔开一个测量距离(r),被构造为感测所述待测频闪灯(10)在所述测试点(Pij)下的瞬时光照度;一瞬时电功率测量模块(240),其与所述待测频闪灯(10)电连接,且被构造为测量得到所述待测频闪灯(10)在一个闪光脉宽内的瞬时电功率;一驱动控制装置(250),其连接到所述样品架(220),能够驱动所述样品架(220)带动所述待测频闪灯(10)绕所述第一旋转轴(Zα)转动所述第一角度(αi)和/或绕第二旋转轴(Zβ)转动所述第二角度(βj);和一中央处理装置(260),其分别连接到所述驱动控制装置(250)、所述感测组件(230)和所述瞬时电功率测试模块(240),能够根据一预先存储的由各第一角度(αi)和各第二角度(βj)两两确定的测试点(Pij)的列表,向所述驱动控制装置(250)发送控制所述样品架(220)带动所述待测频闪灯(10)绕所述第一旋转轴(Zα)转动至所述第一角度(αi)和/或绕所述第二旋转轴(Zβ)转动至所述第二角度(βj)的控制指令,使得所述待测频闪灯(10)依次旋转得到各个测试点(Pij),且所有测试点(Pij)满布在所述频闪灯(10)的设定的光辐射空间半球体的体表面上;能够根据来自所述感测组件(230)的所述待测频闪灯(10)在每个测试点(Pij)下的各瞬时光照度,计算得到所述待测频闪灯(10)在一个闪光脉宽内的光通量,并根据来自所述电功率测试模块(240)的所述待测频闪灯(10)在一个闪光脉宽内的瞬时电功率,通过计算所述光通量与所述瞬时电功率的比值,得到所述待测频闪灯(10)的发光效率。
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