[发明专利]一种基于双测头四轴测量系统的叶片光学快速测量方法在审
| 申请号： | 201710378371.7 | 申请日： | 2017-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN107246849A | 公开（公告）日： | 2017-10-13 |
| 发明（设计）人： | 周翔;高小飞;许畅达 | 申请（专利权）人： | 西安知象光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)11350 | 代理人： | 汤东凤 |
| 地址： | 710003 陕西省西安市高新*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于双测头四轴测量系统的叶片光学快速测量方法，该方法在同一四轴测量系统上将两台非基础式激光位移传感器相结合，在各自的工作范围内分别实现对于叶片的某一特定范围的测量，进而将两台传感器的测量结果相互融合，获取完整角度的物体的三维点云数据，最终实现对于叶片的精确测量。本发明采用两个非接触式激光测头相结合的方式对于物体进行三维测量，有效的弥补了由于单一测头的测量所带来的数据不全面等问题，并且解决了固定测量方位所带来的某些点角度点云数据缺失的问题，提高了测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 双测头四轴 测量 系统 叶片 光学 快速 测量方法 | ||
【主权项】：
一种基于双测头四轴测量系统的叶片光学快速测量方法，其特征在于：在同一个四轴测量系统下，采用两个按照不同角度安装的非接触式激光位移传感器对叶片依次进行扫描，得到多角度测量范围内叶片的完整三维模型。
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