[发明专利]一种镀银层厚度标准试片的制作方法在审
| 申请号： | 201710348390.5 | 申请日： | 2017-05-17 |
| 公开（公告）号： | CN106989975A | 公开（公告）日： | 2017-07-28 |
| 发明（设计）人： | 边美华;梁世容;刘桂婵 | 申请（专利权）人： | 广西电网有限责任公司电力科学研究院 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01B15/02 |
| 代理公司： | 南宁东智知识产权代理事务所(特殊普通合伙)45117 | 代理人： | 戴燕桃,巢雄辉 |
| 地址： | 530023 广西*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 本发明涉及电力设备检测领域，具体涉及一种镀银层厚度标准试片的制作方法，本发明通过将铜片放在离子溅射仪里镀银，并用光学显微镜测量镀银后的铜片四周的银层厚度，再用X射线荧光镀层厚度测量仪和元素含量分析仪测量镀银后的铜片中间的银层厚度，如果铜片四周的银层厚度与铜片中间的银层厚度不一致再将铜片放入离子溅射仪里镀银，直到铜片四周的银层厚度与铜片中间的银层厚度一致为止。采用本发明提供的一种镀银层厚度标准试片的制作方法，可以简易快速制作镀银层厚度标准的试片，制作简单方便，价格便宜，同时满足电力设备隔离开关触头镀银层厚度检测仪器校准或调试要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 镀银 厚度 标准 试片 制作方法 | ||
【主权项】：
一种镀银层厚度标准试片的制作方法，其特征在于：包括以下步骤：（1）购置铜片、银靶，并将银靶安装在离子溅射仪的安装靶材的位置上以为铜片镀银提供原料；（2）将铜片进行裁切成直径为8~15mm的圆形或者边长为8~15的正方形；（3）将裁切后的铜片放入离子溅射仪中进行镀银；（4）采用校验合格的光学显微镜测量镀银后的铜片四周银层的厚度；（5）采用校验合格的X射线荧光镀层厚度测量仪和元素含量分析仪测量步骤（4）中镀银后的铜片中间位置银层的厚度；（6）比较步骤（4）和步骤（5）中对镀银后的铜片的测量结果，如果结果不一致时，则重新放入离子溅射仪中进行镀银；（7）如果步骤（4）和步骤（5）中对镀银后的铜片的测量结果一致时，做好试片厚度标识。
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