[发明专利]一种镀银层厚度标准试片的制作方法

说明书

技术领域

本发明涉及电力设备检测领域，具体涉及一种镀银层厚度标准试片的制作方法。

背景技术

目前，运行于全国35～500kV各电网中的高压隔离开关普通存在触头发热问题，从而导致导电部分受损，引起电气性能下降，分析原因为镀银层厚度不够。因此，按照DL/T1424-2015 《电网金属技术监督规程》要求，室内导电回路动接触部位镀银层厚度不宜小于8μm，室外导电回路动接触部位镀银厚度不宜小于20μm。

针对标准要求，高压隔离开关触头镀银层检测通常采用X射线荧光光谱仪检测。检测前需采用标准试片对仪器进行校核和调试。标准试片一般采用购置国外进口标准试片，单片标准试片价格在人民币5000元以上，而调试设备通常需要3片及以上，导致成本极高。因此，开发简易、快速、低成本的镀银层厚度标准试片十分必要。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供了一种镀银层厚度标准试片的制作方法，具体技术方案如下：

一种镀银层厚度标准试片的制作方法包括以下步骤：

（1）购置铜片、银靶，并将银靶安装在离子溅射仪的安装靶材的位置上以为铜片镀银提供原料；

（2）将铜片进行裁切成直径为8~15mm的圆形或者边长为8~15的正方形；

（3）将裁切后的铜片放入离子溅射仪中进行镀银；

（4）采用校验合格的光学显微镜测量镀银后的铜片四周银层的厚度；

（5）采用校验合格的X射线荧光镀层厚度测量仪和元素含量分析仪测量步骤（4）中镀银后的铜片中间位置银层的厚度；

（6）比较步骤（4）和步骤（5）中对镀银后的铜片的测量结果，如果结果不一致时，则重新放入离子溅射仪中进行镀银；

（7）如果步骤（4）和步骤（5）中对镀银后的铜片的测量结果一致时，做好试片厚度标识。

进一步，所述步骤（1）中铜片的材质为青铜、紫铜中的1种或者2种。

进一步，所述步骤（1）中铜片的厚度为3~10mm。

进一步，所述步骤（1）银靶中的银的质量分数为99.9%及以上。

进一步，所述步骤（3）中镀银的时间为5h以上。

采用本发明提供的一种镀银层厚度标准试片的制作方法，可以简易快速制作镀银层厚度标准的试片，制作简单方便，价格便宜，采用本方法制作250片标准试片成本相当于向国外购买1片标准试片的成本，解决了购买标准试片成本高的问题，同时满足电力设备隔离开关触头镀银层厚度检测仪器校准或调试要求。

购买标准试片的成本的计算方法：购买1片A4纸大小厚度为10mm铜片价格在500元，可以裁切500个直径为10mm的圆形试片或边长为10mm的正方形试片，单个银靶价格为980元，喷涂500个圆形试片需要6～8个银靶，因此包含裁切费用等其他费用估计总共10000元，向国外购买500个标准试片价格在2500000元。

附图说明

附图1是本发明的步骤流程图。

具体实施方式

为了更好的理解本发明，下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明：

实施例1：

一种镀银层厚度标准试片的制作方法包括以下步骤：

（1）购置铜片、银靶，并将银靶安装在离子溅射仪的安装靶材的位置上以为铜片镀银提供原料；铜片为黄铜，厚度为3mm；银靶中的银的质量分数为99.9%及以上；

（2）将铜片进行裁切成直径为10mm的圆形；

（3）将裁切后的铜片放入离子溅射仪中进行镀银，镀银的时间为5h；

（4）采用校验合格的光学显微镜测量镀银后的铜片四周银层的厚度；

（5）采用校验合格的X射线荧光镀层厚度测量仪和元素含量分析仪测量步骤（4）中镀银后的铜片中间位置银层的厚度；

（6）比较步骤（4）和步骤（5）中对镀银后的铜片的测量结果，如果结果不一致时，则重新放入离子溅射仪中进行镀银；

（7）如果步骤（4）和步骤（5）中对镀银后的铜片的测量结果一致时，做好试片厚度标识。

实施例2：

（1）购置铜片、银靶，并将银靶安装在离子溅射仪的安装靶材的位置上以为铜片镀银提供原料；铜片为紫铜，厚度为10mm；银靶中的银的质量分数为99.9%及以上；

（2）将铜片进行裁切成边长为10mm的正方形；

（3）将裁切后的铜片放入离子溅射仪中进行镀银，镀银的时间为6h；

（4）采用校验合格的光学显微镜测量镀银后的铜片四周银层的厚度；