[发明专利]一种缺陷检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710342962.9 申请日: 2017-05-16
公开(公告)号: CN107271445B 公开(公告)日: 2020-10-16
发明(设计)人: 罗汉杰 申请(专利权)人: 广州视源电子科技股份有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 麦小婵;郝传鑫
地址: 510530 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种缺陷检测方法,包括:驱动摄像头拍摄PCB板的N个投影图像;其中,所述N个投影图像为N个投影仪分别向所述PCB板投射特定纹理图像时在所述PCB板上呈现的二维图像,所述N个投影仪都与所述PCB板相对应;N>1;根据所述N个投影图像,获得与每一投影图像一一对应的等高图;根据所述等高图,比对所述PCB板的待测区域的高度与预先测定的标准高度;根据高度比对结果,判断所述待测区域是否存在高度缺陷。相应地,本发明还公开一种缺陷检测装置。本发明可以检测PCB板上待测区域的高度,成本低且速度快、精度高;并且克服了由于PCB板上元件密集造成的阴影区域影响结构光信息提取的问题,进一步提高检测精度。
搜索关键词: 一种 缺陷 检测 方法 装置
【主权项】:
一种缺陷检测方法,其特征在于,包括:驱动摄像头拍摄PCB板的N个投影图像;其中,所述N个投影图像为N个投影仪分别向所述PCB板投射特定纹理图像时在所述PCB板上呈现的二维图像,所述N个投影仪都与所述PCB板相对应;N>1;根据所述N个投影图像,获得与每一投影图像一一对应的等高图;根据所述等高图,比对所述PCB板的待测区域的高度与预先测定的标准高度;根据高度比对结果,判断所述待测区域是否存在高度缺陷。
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