[发明专利]二维位移测量装置及测量方法有效

专利信息
申请号: 201710277410.4 申请日: 2017-04-25
公开(公告)号: CN107121071B 公开(公告)日: 2019-09-20
发明(设计)人: 谈宜东;卢悦越;朱开毅;郭波;张韶辉;张书练 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 代理人: 哈达
地址: 100084*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种二维位移测量装置,包括:激光器,用于输出偏振激光;分光移频模块,用于将偏振激光进行分光并实现差动移频,形成至少两束光,且两束光频率不同;汇聚模块,用于对至少两束光进行汇聚后入射至待测目标上,且两束光在待测目标上相交,并接收被待测目标散射返回的激光,使返回的激光进入激光器,以对激光器的输出激光的光强进行调制;信号检测模块,用于对激光器输出激光的光强进行检测并转换为电信号;信号处理模块,与所述信号检测模块连接,用于对信号检测模块输出的电信号进行处理及计算,获得离面位移及面内位移。本发明还提供一种位移测量方法。本发明提供的二维位移测量装置及方法测量精度高。
搜索关键词: 二维 位移 测量 装置 测量方法
【主权项】:
1.一种二维位移测量装置,其特征在于,所述二维位移测量装置包括:激光器,用于输出偏振激光;分光移频模块,设置于从激光器出射的偏振激光的光路上,用于将偏振激光进行分光并实现差动移频,形成至少两束光,包括第一光束I1和第二光束I2,且两束光频率不同;汇聚模块,设置于从分光移频模块出射的至少两束光的光路上,用于对至少两束光进行汇聚后入射至待测目标上,且两束光在待测目标上相交,并接收被待测目标散射返回的激光,使返回的激光进入激光器,以对激光器的输出激光的光强进行调制;其中,使返回的激光进入激光器,包括:使所述第一光束I1沿所述第二光束I2的入射光路返回激光器,使所述第二光束I2沿所述第一光束I1的入射光路返回激光器,以及使所述第一光束I1沿所述第一光束I1的入射光路返回激光器;信号检测模块,设置于从激光器出射的偏振激光的光路上,用于对激光器输出激光的光强进行检测并转换为电信号;信号处理模块,包括信号处理单元和数据处理单元,所述信号处理单元与所述信号检测模块连接,用于对信号检测模块输出的电信号进行预处理及同步相位解调,所述数据处理单元与所述信号处理单元连接,用于对解调出的相位进行数据处理及计算,获得离面位移及面内位移。
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