[发明专利]测量装置在审

专利信息
申请号: 201710249026.3 申请日: 2017-04-17
公开(公告)号: CN107388941A 公开(公告)日: 2017-11-24
发明(设计)人: 莱蒙德·沃尔克 申请(专利权)人: 业纳工业计量德国公司
主分类号: G01B5/20 分类号: G01B5/20
代理公司: 上海智信专利代理有限公司31002 代理人: 邓琪
地址: 德国菲林根-*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种用于对工件(4)的轮廓进行测量的测量装置(2),具有用于与所述工件(4)的表面接触的测量触头(7)和分配给所述工件(4)的第二轴线(12),所述测量触头(7)以能够围绕第一轴线(测量轴线)(6)摆动的方式支承并且能够偏移。根据本发明,所述第一轴线(6)和所述第二轴线(12)彼此平行或者近似平行地设置,以便沿径向与所述工件(4)的表面接触,其中,设有用于使所述测量触头(7)和所述工件(4)彼此相对转动的装置,使得在转动时所述测量触头(7)对所述工件(4)的表面进行扫描,以及设有用于根据所述工件(4)相对于所述测量触头(7)的相应转动位置对所述测量触头(7)的角度偏移进行记录的装置。
搜索关键词: 测量 装置
【主权项】:
一种用于对工件(4)的轮廓进行测量的测量装置(2),所述测量装置(2)具有用于与所述工件(4)的表面接触的测量触头(7)以及具有分配给所述工件(4)的第二轴线(12),所述测量触头(7)以能够围绕第一轴线(测量轴线)(6)摆动的方式支承并且能够偏移,其特征在于,所述第一轴线(6)和所述第二轴线(12)彼此平行或者近似平行地设置,以便沿径向与所述工件(4)的表面接触;设有用于使所述测量触头(7)和所述工件(4)彼此相对转动的装置,使得在转动时所述测量触头(7)对所述工件(4)的表面进行扫描;以及设有用于根据所述工件(4)相对于所述测量触头(7)的相应转动位置对所述测量触头(7)的角度偏移进行记录的装置。
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