[发明专利]一种V棱镜测量土壤折射率的方法及装置在审

专利信息
申请号: 201710239132.3 申请日: 2017-04-13
公开(公告)号: CN106841111A 公开(公告)日: 2017-06-13
发明(设计)人: 项恩新;郭平;林勇;王科;吴灿辉;李伟;余开思 申请(专利权)人: 云南电网有限责任公司电力科学研究院;云南电网有限责任公司临沧供电局;中光华研电子科技有限公司
主分类号: G01N21/41 分类号: G01N21/41
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)11363 代理人: 逯长明,许伟群
地址: 650217 云南省昆*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 本申请公开了一种V棱镜测量土壤折射率的方法及装置,所述方法包括将待测土壤样品放置于V棱镜的V形缺口处,并在待测土壤样品和V棱镜之间填充一层浸液;无线电磁波发射器发射垂直于V棱镜入射面的电磁波光束,电磁波光束通过V棱镜和待测土壤样品时发生折射,且折射后的电磁波光束通过V棱镜的出射面射出;移动CCD传感器,分别记录CCD传感器感应到出射电磁波光束的位置坐标;将位置坐标代入公式计算得到样品的折射率。本申请提供的测量方法改进了传统的V棱镜法,将传统的玻璃棱镜替换为透明陶瓷,提高了可测量折射率范围;同时采用无线电磁波发射器和CCD传感器,提高了测量精度;还有本方法测量原理简单,利于快速得到测量结果。
搜索关键词: 一种 棱镜 测量 土壤 折射率 方法 装置
【主权项】:
一种V棱镜测量土壤折射率的方法,其特征在于,所述方法包括:将待测土壤样品放置于V棱镜的V形缺口处,并在所述待测土壤样品与V棱镜之间填充一层浸液;无线电磁波发射器发射垂直于所述V棱镜入射面的电磁波光束,所述电磁波光束通过所述V棱镜和待测土壤样品时发生折射,且折射后的电磁波光束通过所述V棱镜的出射面射出;移动CCD传感器,分别记录所述CCD传感器感应到出射电磁波光束的位置坐标(x1,y1)和(x2,y2);将位置坐标(x1,y1)和(x2,y2)代入公式计算得到所述待测土壤样品的折射率n,其中n0为V棱镜的折射率。
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