[发明专利]透射式辐射成像系统在审
| 申请号： | 201710237120.7 | 申请日： | 2017-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN106841249A | 公开（公告）日： | 2017-06-13 |
| 发明（设计）人： | 郭近贤;曹艳锋;刘铮;王春雷;冯志涛;王彦华 | 申请（专利权）人： | 北京君和信达科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京展翼知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11452 | 代理人： | 屠长存 |
| 地址： | 100088 北京市西*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种透射式辐射成像系统。其中，辐射源用于向被检测物体发射用于成像的辐射束，不同的探测器阵列适于设置在不同的位置，用于接收以不同角度从被检测物体透射的辐射束，辐射束调制装置用于对辐射源发射的辐射束进行调制，以使得辐射源具有多种发射模式，不同发射模式下入射到被检测物体上的辐射束的入射角度或入射角度组合不同，并且不同发射模式下接收到辐射束的探测器阵列或探测器阵列组合不同。由此，在辐射束调制装置的调制作用下辐射源可以以不同视角或视角组合向被检测物体发射扫描射线束，以获取不同视角或视角组合下的被检测物体的透射图像，从而可以改善透射式图像中存在的物体重叠问题。 | ||
| 搜索关键词： | 透射 辐射 成像 系统 | ||
【主权项】：
一种透射式辐射成像系统，包括：辐射源，用于向被检测物体发射用于成像的辐射束；多个探测器阵列，每个探测器阵列包括一个或多个探测器，不同的探测器阵列适于设置在不同的位置，用于接收以不同角度从所述被检测物体透射的辐射束；以及辐射束调制装置，用于对所述辐射源发射的辐射束进行调制，以使得所述辐射源具有多种发射模式，其中，不同发射模式下入射到所述被检测物体上的辐射束的入射角度或入射角度组合不同，并且不同发射模式下接收到辐射束的探测器阵列或探测器阵列组合不同。
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