[发明专利]吸收性介质复折射率测量装置及其测量方法有效
| 申请号： | 201710223714.2 | 申请日： | 2017-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN106841110B | 公开（公告）日： | 2023-05-05 |
| 发明（设计）人： | 张秋长;罗天舒 | 申请（专利权）人： | 厦门大学嘉庚学院 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41;G01N21/01 |
| 代理公司： | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人： | 蔡学俊 |
| 地址： | 363105 福建省漳州*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种吸收性介质复折射率测量装置及其测量方法，包括激光发射器、尖劈形吸收性介质、CCD探测器、示波器与转动机构，所述转动机构包括直杆、与直杆一端固定连接的第一平台及与直杆另一端铰接的第二平台，所述激光发射器放置在第一平台上，尖劈形吸收性介质放置在第二平台上；CCD探测器设置第二平台的后方，接收激光发射器直接射出的光束或经尖劈形吸收性介质折射后的光束并将光信号输送至示波器进行实时显示。本发明测量原理容易理解，光路简单，仪器成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 吸收性 介质 折射率 测量 装置 及其 测量方法 | ||
【主权项】：
一种吸收性介质复折射率测量装置，其特征在于：包括激光发射器、尖劈形吸收性介质、CCD探测器、示波器与转动机构，所述转动机构包括直杆、与直杆一端固定连接的第一平台及与直杆另一端铰接的第二平台，所述激光发射器放置在第一平台上，尖劈形吸收性介质放置在第二平台上；CCD探测器设置第二平台的后方，接收激光发射器直接射出的光束或经尖劈形吸收性介质折射后的光束并将光信号输送至示波器进行实时显示。
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