[发明专利]用于激光诱导击穿光谱采集的阶梯光谱仪动态校正方法

摘要

本发明属于材料成份检测技术领域，具体涉及一种用于激光诱导击穿光谱采集的阶梯光谱仪动态校正方法，具体包括以下步骤：S1.使用阶梯光谱仪采集标准光源；S2.结合波长标定函数得到光谱波长所对应的像素坐标S3.在像素坐标附近进行动态搜索和筛选得到像素位置的集合D，将集合D内的所有原始强度值进行调整得到F(I_x，y)；S4.将调整后的强度值F(I_x，y)进行求和计算得到校准之后的强度值，从而完成对阶梯光谱仪结果的动态校正。本发明的方法克服了现有阶梯光谱仪仅在使用前校准而无法解决使用过程中的谱线漂移的不足，提高了该波长的绝对强度，有效的降低了定量分析的探测极限，同时提高了待分析元素的定量分析精准度。

主权项

1.一种用于激光诱导击穿光谱采集的阶梯光谱仪动态校正方法，其特征在于，具体包括以下步骤：S1.使用阶梯光谱仪采集标准光源，得到标准光源的光谱图，根据光谱图得到不同级次的光谱波长；S2.根据步骤S1中得到的不同级次的光谱波长，结合与此光谱波长相对应的标定函数f(x，y)，计算得到某一分析元素的光谱波长所对应的在阶梯光谱仪上的像素坐标其中，x和y表示该分析元素在阶梯光谱仪上的原始像素水平方向和竖直方向坐标，和则表示某一分析元素的光谱波长在阶梯光谱仪上对应的像素水平方向和竖直方向的坐标；S3.再次使用阶梯光谱仪，对待测样品中上述分析元素所对应的激光诱导等离子体光谱进行采集，然后结合步骤S2中所得到的像素坐标在该像素坐标附近进行动态搜索和筛选，得到全部像素位置坐标的集合D，此外，将该集合D内与上述分析元素所对应的所有原始强度值进行调整，相应获得调整之后的数值且将其采用调整函数F(I_x，y)予以表示，其中，I_x，y表示像素坐标(x，y)处所对应的光谱谱线强度值；集合D中像素坐标(x，y)中x和y的取值下限分别为m和n，取值上限分别为m′和n′；S4.将步骤S3中得到的调整后的强度值F(I_x，y)按照下列计算式进行，以此计算得到波长值为的光谱谱线动态校准之后的强度值：该值即为待测样品中上述分析元素的光谱谱线强度值，从而完成对阶梯光谱仪结果的动态校正，其中，I_x，y为阶梯光谱仪像素位置(x，y)处光谱谱线强度值，函数F为调整函数，为校准之后的波长值为w的光谱谱线强度值，函数∑为求和函数。