[发明专利]一种发光二极管的晶元测试方法和晶元测试系统有效
| 申请号： | 201710203377.0 | 申请日： | 2017-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN107167718B | 公开（公告）日： | 2019-10-08 |
| 发明（设计）人： | 喻海波;叶青贤;向光胜;陈建南;周高明 | 申请（专利权）人： | 华灿光电（浙江）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/44 |
| 代理公司： | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人： | 徐立 |
| 地址： | 322000 浙江省金华市义*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种发光二极管的晶元测试方法和晶元测试系统，属于光电子技术领域。该晶元测试方法包括对同一片待测试晶元上的LED芯片进行抽样测试，得到抽样测试结果；将抽样测试结果分别与对应的多种光电参数的预设标准进行比较，以得到未达标光电参数；对同一片待测试晶元上的每个LED芯片进行未达标光电参数的逐一测试。由于在进行逐一测试的过程中，有部分光电参数不再进行测试，从而可以减少测试的项目，提高测试的效率，同时由于已经进行了抽样测试，因此可以确保在逐一测试中未进行测试的光电参数也满足工艺的要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 发光二极管 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种发光二极管的晶元测试方法，其特征在于，所述晶元测试方法包括：对同一片待测试晶元上的LED芯片进行抽样测试，得到抽样测试结果，所述抽样测试结果包括多种光电参数的测试结果，所述抽样测试的样本均匀分布于所述待测试晶元上；将所述抽样测试结果分别与对应的多种光电参数的预设标准进行比较，以得到未达标光电参数；对同一片所述待测试晶元上的每个所述LED芯片进行所述未达标光电参数的逐一测试，根据所述未达标光电参数的测试结果确定每个LED芯片是否合格。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华灿光电（浙江）有限公司，未经华灿光电（浙江）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710203377.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
