[发明专利]计算机断层摄影X-射线显微镜系统中谱表征的方法和系统有效
| 申请号： | 201710178999.2 | 申请日： | 2017-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN107228865B | 公开（公告）日： | 2022-08-26 |
| 发明（设计）人： | 黄志峰;托马斯·A·凯斯;洛伦斯·B·斯蒂格 | 申请（专利权）人： | 卡尔蔡司X射线显微镜公司 |
| 主分类号： | G01N23/046 | 分类号： | G01N23/046 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 邓云鹏 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于断层重建、束硬化校正、双能量CT和系统诊断等等的谱测量和估计方法，包括确定源加速电压、预滤器和/或检测器的组合的谱，并且在测量多个预滤器的透射值以后计算所述源加速电压、预滤器和/或检测器组合的校正谱。 | ||
| 搜索关键词： | 计算机 断层 摄影 射线 显微镜 系统 谱表 方法 | ||
【主权项】：
一种X‑射线CT系统中的X‑射线源谱测量和估计方法，所述方法包括：确定以至少一个X‑射线加速电压、多于一个滤波器和至少一个检测器的多个不同组合的从X‑射线CT系统的X‑射线源发射的X‑射线的基线谱；在所述X‑射线CT系统的操作期间，监测所述X‑射线以确定所述X‑射线源谱的改变；并且响应于确定所述X‑射线源谱已经改变而基于测量至少1个或多个滤波器的测量透射值来计算新的基线谱。
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