[发明专利]微纳颗粒状粉体杂质光学分析方法

摘要

本发明公开了一种微纳颗粒状粉体杂质光学分析方法，包括以下工作步骤采用粉末处理装置将含有杂质的微纳颗粒状粉体在平台上铺平；采用CCD相机或CMOS相机对粉层进行拍照；照片通过数据传输线传送到个人计算机、或平板电脑、或手机；个人计算机、或平板电脑、或手机实时接收到CCD相机或CMOS相机传输的照片并利用个人计算机的PC端软件或平板电脑或手机上的APP第三方应用程序对照片进行处理，识别出粉层中的杂质、统计出杂质数量并将杂质的位置标注在相应图像中，最后将处理好的图像和统计结果输出到显示器上；CCD相机或CMOS相机拍照完毕，粉末处理装置将粉层回收。本发明分析方法准确度高、速度快。

主权项

微纳颗粒状粉体杂质光学分析方法，其特征在于包括以下工作步骤：①、采用粉末处理装置(1)将含有不同颜色杂质的微纳颗粒状粉体在平台(7)上铺平成具有适宜面积的规矩几何形状和适宜厚度的粉层，所述适宜厚度以粉末颗粒在竖直空间上不相互叠加为宜；②、采用CCD相机(2)或CMOS相机对粉层进行拍照，所述CCD相机(2)或CMOS相机通过相机支架(3)支撑固定在粉层上方，所述相机支架(3)可在高度和水平上调节CCD相机(2)或CMOS相机的位置；③、所述CCD相机(2)或CMOS相机通过数据传输线(4)将拍摄的每张照片传输到显示处理终端(5)，所述显示处理终端(5)采用个人计算机、或采用平板电脑、或采用手机；④、所述个人计算机、或平板电脑、或手机实时接收到CCD相机(2)或CMOS相机传输的照片并利用个人计算机的PC端软件或平板电脑或手机上的APP第三方应用程序对含有杂质的粉末照片进行处理，识别出杂质、统计出杂质数量并将杂质的位置标注在相应图像中，最后将处理好的图像和统计结果输出到显示器上。⑤、所述CCD相机(2)或CMOS相机拍照完毕，所述粉末处理装置(1)将粉层回收。