[发明专利]低温系统和方法有效
申请号: | 201710148239.7 | 申请日: | 2017-03-13 |
公开(公告)号: | CN107179230B | 公开(公告)日: | 2022-01-21 |
发明(设计)人: | 卡力伯·施赖贝斯;本·林肯霍克;卢克·马里特森 | 申请(专利权)人: | 蒙大纳仪器公司 |
主分类号: | G01N1/42 | 分类号: | G01N1/42 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 张启程 |
地址: | 美国蒙*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供了一种低温样品分析系统,所述低温样品分析系统可以包括:与系统周围的环境直接物理接触的系统壳体;在系统壳体内的样品台;和在样品台与壳体之间在操作上接合的谐振频率隔离组件。还提供了一种低温样品分析系统,其包括:与支撑和包围系统的环境直接物理接触的系统壳体;在系统内并在操作上与系统的冷头联接的样品台;和隔离组件,所述隔离组件在操作上接合在由环境和/或冷头产生的谐振频率之间,所述隔离组件包括悬挂的质量块。 | ||
搜索关键词: | 低温 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种低温样品分析系统,包括:与所述系统周围的环境直接物理接触的系统壳体;在系统壳体内的样品台;和谐振频率隔离组件,所述谐振频率隔离组件在操作上接合在样品台与壳体之间。
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