[发明专利]低温系统和方法

说明书

本发明提供了一种低温样品分析系统，所述低温样品分析系统可以包括：与系统周围的环境直接物理接触的系统壳体；在系统壳体内的样品台；和在样品台与壳体之间在操作上接合的谐振频率隔离组件。还提供了一种低温样品分析系统，其包括：与支撑和包围系统的环境直接物理接触的系统壳体；在系统内并在操作上与系统的冷头联接的样品台；和隔离组件，所述隔离组件在操作上接合在由环境和/或冷头产生的谐振频率之间，所述隔离组件包括悬挂的质量块。

相关申请的交叉引用

本申请主张2016年3月11提出申请的美国临时专利申请第62/307,303号的优先权益，其中该申请的整个内容通过引用在此并入供参考。

技术领域

本公开涉及低温系统和方法。本公开的具体实施例涉及阶段抽样的低温系统和方法中的样品台结构。

本发明涉及到用于低温研究的系统和方法。更具体地，本发明涉及用于低温冷却样品的显微镜学和能谱学的系统和方法。

背景技术

与低温显微镜学相关联的问题有很多。冷却系统使样品振动；保持样品的恒定温度同样具有挑战。曾试图解决这些问题，但是没有解决方案提供了在不振动且同时保持样品温度的情况下支撑样品的可靠系统。

一直需要一种使低温冷却样品有效地隔离冷却系统的振动同时将样品保持在稳定温度下的系统。

发明内容

提供了一种低温样品分析系统，所述低温样品分析系统可以包括：与系统周围的环境直接物理接触的系统壳体；在系统壳体内的样品台；和在样品台与壳体之间在操作上接合的谐振频率隔离组件。

还提供了一种低温样品分析系统，其可以包括：与支撑和包围系统的环境直接物理接触的系统壳体；在系统内并在操作上联接到系统的冷头的样品台；和隔离组件，所述隔离组件在操作上接合在由环境和/或冷头产生的谐振频率之间，所述隔离组件包括悬挂的质量块。

提供了用于分析等温冷却样品的方法，该方法包括以下步骤：将样品放置在样品台上；低温冷却样品台和样品；以及使样品台和样品两者与外部温度和谐振频率两者隔离。

附图说明

这里公开的特征在示出了本公开的实施例的附图中进行说明。

图1是根据本公开的实施例的低温系统的侧视立体图；

图2是根据本公开的一实施例的图1的低温系统的顶部俯视图；

图3是根据本公开的一实施例的图1的低温系统的侧视正视剖视图；

图4是根据本公开的一实施例的样品支撑组件的俯视图；

图5是根据本公开的一实施例的图4的样品支撑组件的横截面；

图6是根据本公开的一实施例的图4的样品支撑组件的立体图；以及

图7是根据本公开的另一实施例的另一样品支撑组件的立体图。

具体实施方式

根据美国专利法“促进科学和有用技术的前进(第8章第1条)”的宪法目的的促进，提交本公开。

以下参照图1-7描述本公开的实施例。首先参照图1，示出了一示例性低温系统8。低温系统可以总体如授予Mauritsen等人、题目为“Low Vibration Cryocooled Systemfor Low Temperature Microscopy and Spectroscopy Applications”的美国专利No.8,746,008中所述的那样构造而成。

低温系统8可以包括支撑闭环低温冷却器膨胀器单元4的支撑件3，所述闭环低温冷却器膨胀器单元4可以在操作上与样品壳体1对准。单元4可以是Sumitomo HeavyIndustries RDK-101D低温冷却器。