[发明专利]基于APC和恒温智能控制的激光半导体物证发现装置有效
申请号: | 201710135996.0 | 申请日: | 2017-03-08 |
公开(公告)号: | CN107037840B | 公开(公告)日: | 2020-04-21 |
发明(设计)人: | 李振琦 | 申请(专利权)人: | 广东腾德同普科技股份有限公司 |
主分类号: | G05D23/24 | 分类号: | G05D23/24;G05D23/30;G05F1/66;H03K17/28;G01N21/64;G01V8/10;H05B33/08 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫 |
地址: | 510663 广东省广州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于APC和恒温智能控制的激光半导体物证发现装置,包括同轴分布且顺序套接的光学透镜组合结构、散热机构、控制系统仓和电池安装仓,所述控制系统仓内设置多路输出驱动控制系统,多路输出驱动控制系统包括用于输出稳定光的自动功率控制驱动电路和用于防止激光波长漂移的智能恒温控制半导体制冷器电路。本发明基于APC和恒温智能控制的激光半导体物证发现装置,输出稳定的发光功率,具备防止激光波长漂移的激光半导体工作环境。 | ||
搜索关键词: | 基于 apc 恒温 智能 控制 激光 半导体 物证 发现 装置 | ||
【主权项】:
基于APC和恒温智能控制的激光半导体物证发现装置,包括同轴分布且顺序套接的光学透镜组合结构、散热机构、控制系统仓和电池安装仓,其特征在于,所述控制系统仓内设置多路输出驱动控制系统,多路输出驱动控制系统包括用于输出稳定光的自动功率控制驱动电路和用于防止激光波长漂移的智能恒温控制半导体制冷器电路。
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