[发明专利]用于保护集成电路的方法以及相应的集成电路有效
| 申请号： | 201710132181.7 | 申请日： | 2017-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN107563191B | 公开（公告）日： | 2020-11-03 |
| 发明（设计）人： | T·奥达斯;A·萨拉菲亚诺斯;F·马里内特;S·谢奈斯 | 申请（专利权）人： | 意法半导体(鲁塞)公司 |
| 主分类号： | G06F21/55 | 分类号： | G06F21/55 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了用于保护集成电路的方法以及相应的集成电路。一种集成电子电路，所述集成电子电路包括：保护设备(DEV)，所述保护设备包括在所述集成电子电路的互连部分(INT)中产生的金属屏蔽层(SHLD)；以及检测装置(3)，所述检测装置包括所述金属屏蔽层(SHLD)并且被配置成用于检测表示故障注入攻击的外部电磁辐射的存在。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 保护 集成电路 方法 以及 相应 | ||
【主权项】：
一种用于保护集成电路(IC)免受借助于外部电磁辐射进行的故障注入攻击的方法，所述集成电路(IC)包括在其互连部分(INT)中产生的金属屏蔽层(SHLD)，其特征在于，所述方法包括：经由所述金属屏蔽层(SHLD)检测所述电磁辐射。
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