[发明专利]多分辨率透射柱面弯晶谱仪有效

专利信息
申请号: 201710129113.5 申请日: 2017-03-06
公开(公告)号: CN106842281B 公开(公告)日: 2023-04-28
发明(设计)人: 徐涛;王峰;苏明;刘慎业 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G01T1/36 分类号: G01T1/36
代理公司: 重庆为信知识产权代理事务所(普通合伙) 50216 代理人: 龙玉洪
地址: 621900 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种多分辨率透射柱面弯晶谱仪,包括箱体,在箱体内依次同轴设置有柱面弯晶分析器、后置铅光阑、以及可透光的台阶闪烁体和X射线记录装置;所述后置铅光阑中部设有狭缝,该狭缝用于阻挡直穿的X射线,而供经柱面弯晶分析器分光的X射线透过;所述台阶闪烁体靠近后置铅光阑的一端沿其轴向至少设有两级台阶,每个所述台阶的端面均具有将衍射后的X射线的衍射线转化成可见光后,还保持其谱分辨率的晶体薄层。采用以上结构,通过台阶型闪烁体实现多分辨率和大测谱范围的X射线的兼顾测量,满足更多测量场合,同时实现实时获取捕捉X射线谱图像,能快速看到测量结果,构思新颖,具有极大的科研应用价值。
搜索关键词: 分辨率 透射 柱面 弯晶谱仪
【主权项】:
一种多分辨率透射柱面弯晶谱仪,包括箱体(1),其特征在于:所述箱体(1)内依次同轴设置有柱面弯晶分析器(2)、后置铅光阑(3)、以及可透光的台阶闪烁体(4)和X射线记录装置(5);所述后置铅光阑(3)中部设有狭缝(30),该狭缝(30)用于阻挡直穿的X射线,而供经柱面弯晶分析器(2)分光的X射线透过;所述台阶闪烁体(4)靠近后置铅光阑(3)的一端沿其轴向至少设有两级台阶(40),每个所述台阶(40)的端面均具有将衍射后的X射线的衍射线转化成可见光后,还保持其谱分辨率的晶体薄层(41)。
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