[发明专利]多分辨率透射柱面弯晶谱仪有效
申请号: | 201710129113.5 | 申请日: | 2017-03-06 |
公开(公告)号: | CN106842281B | 公开(公告)日: | 2023-04-28 |
发明(设计)人: | 徐涛;王峰;苏明;刘慎业 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
主分类号: | G01T1/36 | 分类号: | G01T1/36 |
代理公司: | 重庆为信知识产权代理事务所(普通合伙) 50216 | 代理人: | 龙玉洪 |
地址: | 621900 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分辨率 透射 柱面 弯晶谱仪 | ||
1.一种多分辨率透射柱面弯晶谱仪,包括箱体(1),其特征在于:所述箱体(1)内依次同轴设置有柱面弯晶分析器(2)、后置铅光阑(3)、以及可透光的台阶闪烁体(4)和X射线记录装置(5);
所述后置铅光阑(3)中部设有狭缝(30),该狭缝(30)用于阻挡直穿的X射线,而供经柱面弯晶分析器(2)分光的X射线透过;
所述台阶闪烁体(4)靠近后置铅光阑(3)的一端沿其轴向至少设有两级台阶(40),每个所述台阶(40)的端面均具有将衍射后的X射线的衍射线转化成可见光后,还保持其谱分辨率的晶体薄层(41);
所述柱面弯晶分析器(2)包括柱面弯晶(20)和柱面支撑台(21),柱面支撑台(21)的两端设有螺孔,箱体(1)上对应位置设有安装部,柱面支撑台(21)通过螺丝与箱体(1)固定安装。
2.根据权利要求1所述的多分辨率透射柱面弯晶谱仪,其特征在于:所述箱体(1)前端还设有前置铅光阑(6),该前置铅光阑(6)位于柱面弯晶分析器(2)设有柱面弯晶(20)的一侧,并与柱面弯晶分析器(2)同轴设置;
该前置铅光阑(6)的中心位置设有中心孔(60),在中心孔(60)左右两侧对称的设有供X射线通过的通光窗口(61)。
3.根据权利要求1或2所述的多分辨率透射柱面弯晶谱仪,其特征在于:所述X射线记录装置(5)包括CMOS相机(50),该CMOS相机(50)的正面光纤面板紧贴所述台阶闪烁体(4)的后端面。
4.根据权利要求3所述的多分辨率透射柱面弯晶谱仪,其特征在于:所述X射线记录装置(5)还包括相机压板(51),该相机压板(51)为平板结构,紧贴CMOS相机(50)的背部,并通过四角的压紧螺丝(510)固定在箱体(1)的后端,所述压紧螺丝(510)上套设有弹簧(511),该弹簧(511)位于相机压板(51)与箱体(1)的侧壁后端之间,所述相机压板(51)上还设有供CMOS相机(50)线缆穿出的通孔(512)。
5.根据权利要求1或2所述的多分辨率透射柱面弯晶谱仪,其特征在于:所述台阶闪烁体(4)为由光纤制成的圆柱状结构,所述台阶(40)为两个,且两个台阶(40)的交界线与柱面弯晶分析器(2)的光轴重合,靠近所述柱面弯晶分析器(2)的一个台阶(40)的端面与柱面弯晶(20)的罗兰圆相切。
6.根据权利要求5所述的多分辨率透射柱面弯晶谱仪,其特征在于:所述晶体薄层(41)为碘化铯掺铊晶体,并以柱状结构密布在台阶(40)的端面。
7.根据权利要求6所述的多分辨率透射柱面弯晶谱仪,其特征在于:所述晶体薄层(41)上覆盖有用于隔绝空气的有机薄膜。
8.根据权利要求4所述的多分辨率透射柱面弯晶谱仪,其特征在于:所述箱体(1)呈前小后大的长方体形,其前端和后端敞口,其上部顶盖(10)可拆卸地安装。
9.根据权利要求8所述的多分辨率透射柱面弯晶谱仪,其特征在于:所述箱体(1)侧壁在对应所述CMOS相机(50)的散热口位置设有通风孔(11)。
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