[发明专利]一种影像测量方法、装置以及系统在审
| 申请号： | 201710117780.1 | 申请日： | 2017-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN106885515A | 公开（公告）日： | 2017-06-23 |
| 发明（设计）人： | 张超 | 申请（专利权）人： | 苏州光照精密仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)11371 | 代理人： | 金相允 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种影像测量方法、装置以及系统，其中，该方法包括获取基准测量物体的测量尺寸，并根据所述测量尺寸以及基准测量物体的实际尺寸，计算光学尺的补偿数据；所述补偿数据包括X轴补偿数据、Y轴补偿数据以及垂直度补偿数据中至少一种；对测量用镜头进行多个测量倍率下的中心轴联合校正，获取校正偏差数据；当获取到待测量物体的测量数据时，根据所述测量数据、所述补偿数据以及所述校正偏差数据，计算所述待测量物体的尺寸数据。本发明实施例在获取待待测量物体的测量数据时，使用补偿数据以及校正偏差数据对测量数据进行校正，最终获得待测量物体的尺寸数据，这个过程对数据进行了多次校正，所获得的数据更加的准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 影像 测量方法 装置 以及 系统 | ||
【主权项】：
一种影像测量方法，其特征在于，包括：获取基准测量物体的测量尺寸，并根据所述测量尺寸以及基准测量物体的实际尺寸，计算光学尺的补偿数据；所述补偿数据包括：X轴补偿数据、Y轴补偿数据以及垂直度补偿数据中至少一种；对测量用镜头进行多个测量倍率下的中心轴联合校正，获取校正偏差数据；当获取到待测量物体的测量数据时，根据所述测量数据、所述补偿数据以及所述校正偏差数据，计算所述待测量物体的尺寸数据。
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