[发明专利]绝缘材料表面电荷测量系统及其测量方法在审
| 申请号： | 201710114896.X | 申请日： | 2017-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN106771684A | 公开（公告）日： | 2017-05-31 |
| 发明（设计）人： | 卓然;王邸博;傅明利;刘通;惠宝军;罗颜;唐炬;潘成 | 申请（专利权）人： | 南方电网科学研究院有限责任公司;中国南方电网有限责任公司电网技术研究中心;武汉大学 |
| 主分类号： | G01R29/24 | 分类号： | G01R29/24 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人： | 周修文 |
| 地址： | 510080 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种绝缘材料表面电荷测量系统及其测量方法。该测量系统包括光源发生器、偏振器、相位调制器、电光晶体、高压电极和感光单元。偏振器、相位调制器、电光晶体和高压电极沿光源发生器的发射光的光路依次设置。高压电极与电光晶体之间存在间隔。感光单元用于接收通过偏振器的反射光、并记录反射光的光波强度。上述的绝缘材料表面电荷测量系统，待测的绝缘材料设置于高压电极与电光晶体之间的间隔中。高压电极对待测的绝缘材料施加高压，导致带电粒子积聚于待测的绝缘材料表面而形成电场。工作人员通过感光单元记录反射光的光波强度，进而依次计算得到相位差、电场强度和绝缘材料的表面电荷分布。 | ||
| 搜索关键词： | 绝缘材料 表面 电荷 测量 系统 及其 测量方法 | ||
【主权项】：
一种绝缘材料表面电荷测量系统，其特征在于，包括光源发生器、偏振器、相位调制器、电光晶体、高压电极和感光单元，所述偏振器、相位调制器、电光晶体和高压电极沿所述光源发生器的发射光的光路依次设置，所述高压电极与所述电光晶体之间存在间隔，所述感光单元用于接收通过所述偏振器的反射光、并获取所述反射光的光波强度。
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