[发明专利]投影物镜的焦面测量装置和方法以及曝光系统有效
申请号: | 201710114463.4 | 申请日: | 2017-02-28 |
公开(公告)号: | CN108508705B | 公开(公告)日: | 2020-06-16 |
发明(设计)人: | 杜荣 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 201203 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种投影物镜的焦面测量装置和方法以及曝光系统,该测量装置固定于工件台上与所述工件台同步运动,依次包括基准板、成像镜组、视觉单元、控制单元及焦面计算单元,掩模上的第一标记经投影物镜所成的空间像与所述基准板的位置对应,所述基准板与所述视觉单元的靶面共轭。本发明将视觉单元安装于工件台上,用以监测投影物镜的焦面位置,代替了人工定期校准的方式;与现有的光栅‑光电二极管相比,降低了测量装置的复杂度及成本,同时提高了兼容性。 | ||
搜索关键词: | 投影 物镜 测量 装置 方法 以及 曝光 系统 | ||
【主权项】:
1.一种投影物镜的焦面测量装置,固定于工件台上与所述工件台同步运动,其特征在于,所述测量装置包括基准板、成像镜组、视觉单元、控制单元及焦面计算单元,掩模上的第一标记经所述投影物镜所成的空间像与所述基准板的位置对应,所述基准板与所述视觉单元的靶面共轭;所述控制单元在所述工件台垂向移动时的每个垂向高度位置,控制所述视觉单元拍摄所述基准板上的成像,所述焦面计算单元分析所述视觉单元上成像的边界过渡宽度,找出满足需求的边界过渡宽度对应的工件台垂向高度即为所述投影物镜的焦面位置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海微电子装备(集团)股份有限公司,未经上海微电子装备(集团)股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710114463.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光刻机和光刻机中吊框面型补偿方法
- 下一篇:一种位移测量系统以及曝光设备