[发明专利]SLD光源测试系统

摘要

本发明实施例所述的SLD光源测试系统，待测SLD光源发出的光经过耦合器、起偏器组件、保偏光纤环、敏感元件后原路返回，返回后的两束线偏振光发生干涉；由探测器检测干涉光强，并得到与所述干涉光强对应的电信号；信号处理电路解析探测器发送的电信号得到测量电流值；误差计算单元根据基准电流值以及测量电流值得到待测SLD光源在所处环境下引入的测量误差。由于光波在上述系统中的传输方式与FOCT中光传输方式相同，因此最终得到的SLD光源在所处环境下引入的测量误差的表现形式也可以与FOCT测量误差的形式等效，上述方案能完全和精准的反映出SLD光源的精度，测试结果可直接用于衡量其在FOCT中的系统性能，为FOCT中SLD光源的筛选提供有效的技术参考。

主权项

一种SLD光源测试系统，其特征在于，包括：耦合器，其第一端接收所述待测SLD光源发出的光，第二端与探测器连接；起偏器组件，与所述耦合器的第三端连接，将所述待测SLD光源发出的光转换为两束线偏振光；保偏光纤环，其第一端与所述起偏器组件的输出端连接；敏感元件，感应通电导体内的基准电流值，与所述保偏光纤环的第二端连接；所述起偏器组件输出的两束线偏振光经所述保偏光纤环、所述敏感元件后原路返回，返回后的两束线偏振光发生干涉；探测器，检测所述耦合器的第二端输出的干涉光强，并得到与所述干涉光强对应的电信号；信号处理电路，接收所述探测器发送的电信号，解析后得到测量电流值；误差计算单元，接收所述信号处理电路发送的所述测量电流值，根据所述基准电流值以及所述测量电流值得到所述待测SLD光源在所处环境下引入的测量误差。