[发明专利]测试电路对二阶或更高阶侧信道分析的抵抗力的方法

摘要

本发明涉及一种测试电路对二阶或更高阶侧信道分析的抵抗力的方法，包括获取多个值集，值集与电路的活动关联；选择每个值集的至少两个值子集；对于每个值集和每个值子集，对第一满射函数变换的值的出现次数计数；对于每个值集，形成将每个值子集的出现次数之一关联在一起的n元组，通过将关联的出现次数相乘计算该值集的每个n元组的组合出现数，形成该值集的出现次数集；对于运算集中的每个运算以及机密数据的一部分的每个可能值，计算部分运算结果；计算累积出现次数集，当被应用于机密数据部分的可能值的相同值时，运算提供具有第二满射函数所获得的相同变换值的部分运算结果；以及分析累积出现次数集以确定机密数据部分。

主权项

一种电路的测试方法，包括：获取多个值集，每个值集包括物理量或逻辑信号的值，当受测试电路执行被应用于待发现的相同数据的不同密码运算的运算集中的运算时，所述值集与所述电路的活动关联，选择每个值集中的至少两个值子集，对于每个值集和每个值子集，通过处理单元对由被应用于该值集的子集中的值的相应第一满射函数变换的值的出现次数计数，对于每个值集，形成将该值集的每个值子集的出现次数之一关联在一起的n元组，通过将借助所述n元组关联的所述出现次数相乘在一起来计算该值集的每个n元组的组合出现数，以及形成包括针对该值集计算的组合出现次数的该值集的出现次数集，对于所述运算集中的每个运算以及待发现的数据的一部分的每个可能值，通过所述处理单元计算部分运算结果，通过所述处理单元计算累积出现次数集，每个累积出现次数集是通过将对应于所述运算集中的运算的出现次数集相加在一起而获得的，当被应用于所述待发现的数据的所述部分的可能值的相同值或等价值时，所述运算提供具有应用第二满射函数所获得的相同变换值的部分运算结果，以及通过所述处理单元分析所述累积出现次数集以确定所述待发现的数据的所述部分，从而知道如果所述待发现的数据已经泄漏到所述值集中，则在与所述待发现的数据的所述部分的值对应的所述累积出现次数集中找到所述待发现的数据。