[发明专利]测试电路对二阶或更高阶侧信道分析的抵抗力的方法

权利要求书

1.一种电路的测试方法，包括：

获取多个值集，每个值集包括物理量或逻辑信号的值，当受测试电路执行被应用于待发现的相同数据的不同密码运算的运算集中的运算时，所述值集与所述电路的活动关联，

选择每个值集中的至少两个值子集，

对于每个值集和每个值子集，通过处理单元对由被应用于该值集的子集中的值的相应第一满射函数变换的值的出现次数计数，

对于每个值集，形成将该值集的每个值子集的出现次数之一关联在一起的n元组，通过将借助所述n元组关联的所述出现次数相乘在一起来计算该值集的每个n元组的组合出现数，以及形成包括针对该值集计算的组合出现次数的该值集的出现次数集，

对于所述运算集中的每个运算以及待发现的数据的一部分的每个可能值，通过所述处理单元计算部分运算结果，

通过所述处理单元计算累积出现次数集，每个累积出现次数集是通过将对应于所述运算集中的运算的出现次数集相加在一起而获得的，当被应用于所述待发现的数据的所述部分的可能值的相同值或等价值时，所述运算提供具有应用第二满射函数所获得的相同变换值的部分运算结果，以及

通过所述处理单元分析所述累积出现次数集以确定所述待发现的数据的所述部分，从而知道如果所述待发现的数据已经泄漏到所述值集中，则在与所述待发现的数据的所述部分的值对应的所述累积出现次数集中找到所述待发现的数据。

2.根据权利要求1所述的方法，包括：

向所述电路发送多个不同的命令，每个命令触发由所述电路执行被应用于所述待发现的数据的所述运算集中的运算之一，以及

在由所述电路执行所述运算集中的一个运算期间，由测量设备收集所述值集中的一个值集的值。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中每个值集的所述子集包括相应不同信号的测量。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中所述值集包括：

所述电路的电流消耗的测量，和/或

由所述电路发射的电磁辐射的测量，和/或

所述电路周围存在的磁场的吸收的测量，和/或

在所述电路中收集的逻辑信号或数字值。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其中所述第一和第二满射函数中的每一者是以下函数之一：

恒等函数，

这样的函数：其提供结果值，该结果值然后被简化为对应于汉明权重的值，

这样的函数：其提供该函数被应用到的值的汉明权重，或

这样的函数：其提供值与该函数被应用到的先前值之间的汉明距离。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，包括如果分析步骤确定所述待发现的数据的所述部分，则拒绝所述电路或由所述电路执行的程序。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其中针对所述待发现的数据的先前确定的部分和所述待发现的数据的另一部分，执行计算所述待发现的数据的一部分的每个可能值的运算结果的步骤、计算出现次数和的步骤、以及分析所述出现次数和的步骤。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其中每个值集中的选定子集包括：

该值集的连续值，和/或

该值集的非连续值，和/或

该值集的局部极值，和/或

该值集的全部值。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，其中所述运算集中的所述运算包括将单个运算应用于所述待发现的数据以及应用于输入数据集中的输入数据，所述单个运算包括以下运算中的至少一者：

对称或不对称加密或解密运算，

签名运算，

与所述待发现的数据的模乘或非模乘，

与所述待发现的数据的逻辑异或运算，

模幂运算，所述待发现的数据被用作指数，

模简化运算，所述待发现的数据被用作模数，

采用使用输入值在替换表中选择的值的替换运算，

组合了与所述待发现的数据的逻辑异或运算和替换运算的运算，所述替换运算以使用所述逻辑运算的结果在替换表中选择的值替换所述逻辑运算的结果。