[发明专利]基于三次样条插值法进行天线远场测量的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710093495.0 申请日: 2017-02-21
公开(公告)号: CN106771672B 公开(公告)日: 2019-03-19
发明(设计)人: 王卫民;刘元安;李梦;吴永乐;黎淑兰;于翠屏;苏明;徐世峰 申请(专利权)人: 北京邮电大学
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 代理人: 孙翠贤;项京
地址: 100876 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供了一种基于三次样条插值法进行天线远场测量的方法及装置,该方法包括:采集天线的第一球面近场数据;利用三次样条插值法对该第一球面近场数据对应的采样点进行插值,并确定插值所生成的各个插值节点对应的球面近场数据;将插值所生成的各个插值节点对应的球面近场数据和该第一球面近场数据组合,得到该天线的第二球面近场数据;根据该天线的第二球面近场数据,求得该天线的远场方向图。通过本方案既能够降低天线近场测量的采样复杂度,又能够保证天线的远场方向图具有较高的精确度。
搜索关键词: 基于 三次 样条插值法 进行 天线 测量 方法 装置
【主权项】:
1.一种基于三次样条插值法进行天线远场测量的方法,其特征在于,包括:采集天线的第一球面近场数据;利用三次样条插值法对所述第一球面近场数据对应的采样点进行插值,并确定插值所生成的各个插值节点对应的球面近场数据,其中,所有插值节点和所述第一球面近场数据所对应的采样点的总数量等于目标数量,所述目标数量为按照目标采样间隔所划分出的采样点的数量,所述目标采样间隔为按照预定采样定理所确定的所述天线的球面近场数据的采样间隔;将插值所生成的各个插值节点对应的球面近场数据和所述第一球面近场数据组合,得到所述天线的第二球面近场数据;根据所述天线的第二球面近场数据,求得所述天线的远场方向图;所述根据所述天线的第二球面近场数据,求得所述天线的远场方向图的步骤,包括:利用所述天线的第二球面近场数据,计算球模式展开系数;将所述球模式展开系数代入预设的远场求解公式中,求得所述天线的远场方向数据;根据所述天线的远场方向数据,绘制所述天线的远场方向图;其中,计算所述球模式展开系数的公式为:其中,amn和bmn为所述球模式展开系数,Vθ和Vφ为所述天线的第二球面近场数据,fn和gn为球汉克尔函数,Smn和S’mn为勒让德函数;所述预设的远场求解公式为:其中,为所述远场方向数据;
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