[发明专利]耦合箱测试装置

摘要

本发明涉及一种测试装置，具体的说是一种耦合箱测试装置，包含：用于夹持固定待测产品的治具、相对于治具进行设置并用于固定测试设备的基座、用于带动治具相对于基座进行旋转的支架。其中，该支架包含分别位于治具任意相对两侧的第一支撑杆和第二支撑杆。该耦合箱测试装置还包含：可滑动地设置在第两支撑杆上的回转机构。其中，该回转机构与治具固定连接用于带动治具朝向或背离基座的方向进行直线运动，并同时用于带动治具向垂直于基座的方向进行圆周运动。同现有技术相比，使得测试设备可对治具上的待测产品的天线性能作不同角度、不同位置的测试，避免出现测试盲区，确保产品在出厂后的信号强度，从而防止了产品在使用过程中出现信号问题。

主权项

1.一种耦合箱测试装置，用于测试待测产品的天线性能，其特征在于：包含：治具，用于夹持固定待测产品；基座，相对于所述治具进行设置，用于固定测试设备；支架，至少包含分别位于所述治具任意相对两侧的第一支撑杆和第二支撑杆，用于带动所述治具相对于所述基座进行旋转；回转机构，可滑动地设置在所述第一支撑杆和所述第二支撑杆上，用于带动所述治具朝向或背离所述基座的方向进行直线运动，且所述回转机构与所述治具固定连接，并用于带动所述治具向垂直于所述基座的方向进行圆周运动；其中，所述第一支撑杆和所述第二支撑杆之间相互隔开构成用于被所述治具在进行圆周运动时通过的空间，而所述测试设备位于两根支撑杆之间。