[发明专利]耦合箱测试装置

权利要求书

1.一种耦合箱测试装置，用于测试待测产品的天线性能，其特征在于：包含：

治具，用于夹持固定待测产品；

基座，相对于所述治具进行设置，用于固定测试设备；

支架，至少包含分别位于所述治具任意相对两侧的第一支撑杆和第二支撑杆，用于带动所述治具相对于所述基座进行旋转；

回转机构，可滑动地设置在所述第一支撑杆和所述第二支撑杆上，用于带动所述治具朝向或背离所述基座的方向进行直线运动，且所述回转机构与所述治具固定连接，并用于带动所述治具向垂直于所述基座的方向进行圆周运动；

其中，所述第一支撑杆和所述第二支撑杆之间相互隔开构成用于被所述治具在进行圆周运动时通过的空间，而所述测试设备位于两根支撑杆之间。

2.根据权利要求1所述的耦合箱测试装置，其特征在于：所述回转机构包含：可滑动地设置在所述第一支撑杆上的第一圆盘、可滑动的设置在所述第二支撑杆上的第二圆盘；其中，所述第一圆盘和所述第二圆盘的盘心在同一轴线上，且所述第一圆盘和所述第二圆盘的滑动方向为所述第一支撑杆和所述第二支撑杆的长度方向；

所述回转机构还包含：设置在所述第一圆盘上的第一挡把，设置在所述第二圆盘上的第二挡把，且所述第一挡把和所述第二挡把分别具有头部和与所述头部相对的尾部；

其中，所述第一挡把的头部和所述第二挡把的头部分别与各自所对应的圆盘的盘心相互铰接，而所述第一挡把的尾部和所述第二挡把的尾部分别与所述治具固定连接，用于同时带动所述治具绕两圆盘的盘心进行圆周运动。

3.根据权利要求2所述的耦合箱测试装置，其特征在于：所述支架还包含设置在第一支撑杆和\或所述第二支撑杆上的标尺，且所述标尺的长度方向与两根支撑杆的长度方向保持一致。

4.根据权利要求2所述的耦合箱测试装置，其特征在于：所述回转机构还包含设置在所述第一支撑杆上并与所述第一圆盘同心设置的第一圆环、设置在所述第二支撑杆上并与所述第二圆盘同心设置的第二圆环；

其中，所述第一圆环的直径大于所述第一圆盘的直径，且所述第一圆环与所述第一圆盘之间相互隔开构成第一环形滑道，所述第一挡把的尾部有部分朝向所述第一环形滑道的方向突出构成穿过所述第一环形滑道的第一突起，且所述第一突起在穿过所述第一环形滑道后与所述治具固定连接；

所述第二圆环的直径大于所述第二圆盘的直径，且所述第二圆环与所述第二圆盘之间相互隔开构成第二环形滑道，所述第二挡把的尾部有部分朝向所述第二环形滑道的方向突出构成穿过所述第二环形滑道的第二突起，且所述第二突起在穿过所述第二环形滑道后与所述治具固定连接。

5.根据权利要求2所述的耦合箱测试装置，其特征在于：所述第一圆盘和\或所述第二圆盘的圆周面上还等距环绕标记有刻度线。

6.根据权利要求5所述的耦合箱测试装置，其特征在于：所述回转机构还包含设置在所述第一挡把上的第一把手，所述第一把手用于带动所述第一挡把绕第一圆盘的盘心进行圆周运动；

所述回转机构还包含设置在所述第二挡把上的第二把手，所述第二把手用于带动所述第二挡把绕所述第二圆盘的盘心进行圆周运动。

7.根据权利要求1所述的耦合箱测试装置，其特征在于：所述支架还包含设置在所述第一支撑杆上的第一滑块、设置在所述第二支撑杆上的第二滑块、设置在所述基座上的环形轨道；

其中，所述第一滑块和所述第二滑块可滑动的设置在所述环形轨道上，且所述环形轨道环绕于所述测试设备。

8.根据权利要求7所述的耦合箱测试装置，其特征在于：所述环形轨道上等距环绕标记有刻度线。

9.根据权利要求1所述的耦合箱测试装置，其特征在于：所述治具包含治具板、设置在所述治具板上用于对所述待测产品进行夹持固定的夹持件。

10.根据权利要求8所述的耦合箱测试装置，其特征在于：所述夹持件包含可拆卸地设置在所述治具板上的第一夹持块、可拆卸地设置在所述治具板上的第二夹持块。