[发明专利]粒子检测系统以及粒子的检测方法有效
| 申请号： | 201710076089.3 | 申请日： | 2017-02-13 |
| 公开（公告）号： | CN107091795B | 公开（公告）日： | 2019-12-27 |
| 发明（设计）人： | 古谷雅;小原太辅 | 申请（专利权）人： | 阿自倍尔株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00 |
| 代理公司： | 31300 上海华诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 肖华 |
| 地址： | 日本东京都千*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种可应对测定环境的变化的粒子检测系统以及粒子的检测方法。本发明的粒子检测系统包括：流路(2)，其供含有粒子的样品液流动；检查装置(100)，其包括光源、光检测部及去噪滤波器，所述光源对样品液照射检查光，所述光检测部对由被照射到检查光的粒子产生的反应光进行检测并发出测定信号，所述去噪滤波器从测定信号中去除噪声；流量计(200)，其测定样品液的流量；输出装置(401)，其输出测定出的流量；输入装置(402)，其接受去噪滤波器要去除的噪声的频率的设定；以及控制部(301)，其按照来自输入装置(402)的输入来控制去噪滤波器要去除的噪声的频率。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 检测 系统 以及 方法 | ||
【主权项】：
1.一种粒子检测系统，其特征在于，包括：/n流路，其供含有粒子的样品液流动；/n光源，其对所述样品液照射检查光；/n光检测部，其对由被照射到所述检查光的粒子产生的反应光进行检测，并发出测定信号；/n去噪滤波器，其从所述测定信号中去除噪声；/n流量计，其测定所述样品液的流量；以及/n反馈控制部，其根据所述样品液的流量来控制所述去噪滤波器要去除的噪声的频率。/n
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